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David REOLON

AIX EN PROVENCE

En résumé

Ingénieur R&D
Optique / Instrumentation

L’ensemble des disciplines visitées lors de mes travaux de thèse et lors de ces 3 années d’expérience au sein de la société STIL SA m’a permis d’acquérir en plus d’un enrichissement personnel, une vision élargie et une facilité d’adaptation à tout nouveau domaine scientifique.

Je souhaite poursuivre ma carrière d’ingénieur R&D en instrumentation optique pour m’investir dans de nouveaux projets innovants.

DOMAINE DE COMPETENCE:

GÉNÉRAL Instrumentation optique :
Étude de systèmes optiques, choix des composants, mise en place et calibrage de dispositifs optiques.

Traitement du signal :
Transformée de Fourier, Transformée en Ondelettes, Algorithme à décalage de phase, Méthode d’ajustement par moindres carrés.

INFORMATIQUE Labview :
Acquisition de données, Automatisation du banc de tests, Traitement du signal.

Matlab :
Modélisation et simulation de phénomènes optiques, Traitement du signal, Traitement d’images.

Notions en C/C++.

MÉTHODES Interférométrie (monochromatique, spectrale), Profilométrie, Microscopie Confocale Chromatique, Tomographie, Spectroscopie, Spectro-colorimétrie.

Mes compétences :
Spectroscopie
Optique
MATLAB

Entreprises

  • STIL

    maintenant

  • STIL SA - Ingénieur R&D optique

    2008 - 2013 - Recherche et Développement pour la conception et/ou l’amélioration de capteur micro/nanotopographiques suivants les principes de l’Interférométrie Spectrale et de la Microscopie Confocale Chromatique.
    - Développement de capteurs dédiés aux applications clients,
    - Gestion de projet en Interférométrie Spectrale,
    - Communication techniques avec les intégrateurs internationaux de nos capteurs,
    - Responsable du service application (métrologie optique) et du service calibration spectrale,
    - Rédaction d’Articles, de Brevets et de la norme associée à l’interférométrie spectrale.

    Résultats :
    - Développement d’un nouveau coffret opto-électronique, commercialisé depuis avril 2009, intégrant les deux principes de mesure, Interférométrie Spectrale et Microscopie Confocale Chromatique, pour la mesure de nanotopographie de surface et d’épaisseur (capteur STIL DUO) permettant d’accéder à de nouveaux domaines d’applications tel que le Semiconducteur pour la mesure de TSV (Through Silicon Vias), l’inspection de Wafer, la mesure de nano-waviness sur des dalles de verres pour écran LCD…
    - Mise en œuvre d’une nouvelle méthode de calibrations spectrales,
    - Rédaction de 3 nouveaux brevets,

Formations

Pas de formation renseignée

Réseau

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