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STMicroelectronics
- Ingénieur en défectivité
2013 - maintenant
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Centre Antoine Lacassagne
- Stagiaire Papillon 50
2010 - 2010
Test de répétabilité et reproductibilité de chambres d'ionisation pour le Papillon 50.
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STMicroelectronics
- Alternant défectivité SP1/SP2
2010 - 2013
Détection de la contamination sur couches minces déposées plaques de silicium.
