Gwenaëlle RUMEN-LUCHIER

En résumé

Entreprises

• SOITEC / Division « Layer transfer » - Responsable produit en substrats avancés

  2008 - 2010 (A noter : Congé parental depuis août 2010)
  
  Gestion du projet substrats Si sur saphir (SOS) ;
  prise en charge de l’intégration des procédés, du prototypage et de la pré industrialisation de la filière.
  > 100% des attendus du projet remplis dans les délais.

• SOITEC / TRACIT (devient filiale Soitec) - Ingénieur produit en transferts de circuits

  2007 - 2008 Gestion des nouveaux produits et des doubles transferts.
  Qualification et optimisation de technologies.
  
  > Changement de site : Contribution à la qualification des lignes pilotes ; intégration au système qualité Soitec.
  > Maîtrise des délais et coûts, optimisation de la qualité produit dans cette période de transition.

• Start-up TRACIT Technologies - Ingénieur prototypage et développement en transferts de circuits

  2004 - 2006 Prise en charge de l’intégralité de l’activité « circuits »
  Amincissements pour packaging et MEMS
  Participation au projet européen de photonique sur CMOS « PICMOS ».
  
  > Plus de 90% des collaborations initiées génèrent des contrats récurrents.
  > Démarrage du projet-phare capteurs d’image CMOS rétro éclairés.

• Intérim Euristt – LETI / CEA-Grenoble - Ingénieur filière en composants passifs

  2002 - 2003 Développement de capacités de découplage haute densité,
  option 3D (gravure profonde du Si, dépôt de diélectrique et métal sur topologie).
  > Démonstration de faisabilité de la filière ; Courrier personnel de félicitations émanant du Directeur R&D du client.

• Université Technique de Munich / Institut de Technologie d’Israël - Post-doctorat

  2001 - 2002 Caractérisations électriques et optiques de semi-conducteurs grand gap.
  Projet européen « Doping of diamond for devices and sensors ».

• Laboratoire Infrarouge / Département Optronique / LETI / CEA-Grenoble - Doctorant

  1997 - 2001 Thèse sur l’élaboration de détecteurs de rayons X (radiologie et instrumentation) :
  Croissance et caractérisation de couches épaisses de CdTe, réalisation et test de dispositifs de détection.

Formations

• Institut National Polytechnique De Grenoble INPG

  Grenoble 1997 - 2001 Thèse de doctorat
  
  Microélectronique

• Université Rennes 1

  Rennes 1996 - 1997 option matière condensée et matériaux

• Université Rennes 1 Magistère Matériaux

  Rennes 1994 - 1997

Réseau

• Luchier NICOLAS

• Patrick HOUEL