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Lorène COURTADE

ROUSSET

En résumé

Ingénieur produit : qualification, caractérisation, industrialisation suivi et amélioration des rendements dans le domaine des semi-conducteurs
Gestion de projets avec les équipes internes : R&D, production, planning et qualité
Support aux clients français et étrangers : réunion, documentation, plainte
Connaissance des procédés de fabrication et des technologies des semi-conducteurs
Fiabilité des technologies mémoires émergentes non volatiles (FeRAM, OxRRAM, MRAM)

Mes compétences :
Gestion de projet
Qualité produit
Analyse de défaillance
Gestion de la relation client
Caractérisation électrique
Microscopie electronique
GANTT Project
8D
Microsoft Project
Caractérisation des matériaux
Analyse de données
Adobe Photoshop CS6

Entreprises

  • LFoundry Rousset - Ingénieur qualité produit

    ROUSSET 2011 - maintenant Suivi des rendements de lignes de produits (technologies 0.18/0.15μm)
    Création, mise en place et suivi de plans d’actions pour l’amélioration continue du
    procédé de fabrication et de la qualité du produit final
    Gestion de la qualification de nouveaux produits (suivi et évaluation des corners
    lots, des tests fonctionnels et de fiabilité, des paramètres en ligne et électriques...)
    Interface interne (engineering, production, qualité) et externe (clients français et
    étrangers)

  • SERELA - Ingénieur qualité/sécurité produit

    2009 - 2011 Analyses du risque de piratage de circuits intégrés sécurisés
    Caractérisation physique de chaque niveau de la puce back-end et front-end
    Reconstruction du layout puis reverse engineering
    Lecture d’informations stockées : delayering, révélation chimique, SEM...
    Extraction de données : modification circuit (FIB) et microprobing
    Développement d’outils et de techniques pour décrypter le fonctionnement des puces

  • Texas Instruments - Ingénieur qualité - analyse de défaillance

    Villeneuve-Loubet 2008 - 2009 Analyses de défaillances de circuits intégrés (technologies 90/60/45 nm)
    Développement et mise en place de techniques de caractérisation physique et
    électrique de défauts
    Utilisation de bases de données Design (Navigation Knights / Cadence)
    Rédaction de rapports d’analyse – Support designers/production/clients

  • IM2NP - Doctorante

    2005 - 2008 Sujet : Développement, mécanismes de programmation et fiabilité de mémoires non volatiles à commutation de résistance MRAM et OxRRAM
    - Fiabilité de mémoires magnétiques MRAM – collaboration Crocus Technology, Grenoble, San José (Californie)
    - Développement de structures Métal/Oxyde résistif NiO/Métal (optimisation des étapes technologiques (dépôts couches minces, traitement thermique) pour l’amélioration des performances électriques) – collaboration IMEC, Belgique
    - Travail en environnement salle blanche : suivi de l’intégration des dispositifs
    - Caractérisations électriques : I(V), C(V), stresses statiques et dynamiques
    - Techniques de caractérisations physiques : MEB, FIB, MET, AFM
    - Dépôt d’un brevet, participation à un projet européen, rédaction de publications

  • Gemalto - Stage ingénieur

    Meudon 2005 - 2005 Sujet : Caractérisation de la fiabilité des mémoires FeRAM
    - Comparaison des performances des mémoires FeRAM et EEPROM
    - Réalisation de tests électriques sur produits et dispositifs élémentaires

  • Atmel - Stage ingénieur

    Rousset 2004 - 2004 Sujet : Etude des propriétés ferro et pyroélectriques de copolymères fluorés intégrés dans un capteur biométrique

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