Solectron/Flextronics
- Expert test et analyse de testabilité
2001 - 2008- Analyse de testabilité à partir des schéma client.
- Vérification de toutes les règles de design (DRC) et de testabilité (ICT/TIS, Boundary Scan/Jtag).
- Elaboration d'une stratégie de test optimale et calcul des couvertures prédictives, écriture des rapports de testabilité.
- Interface entre les bureaux d'études clients et le service méthode test pour la partie technique et les acheteurs pour la partie commerciale.
- Participation active à un groupe de travail international (Usa, Europe, Asie) pour le déploiement du logiciel TESTWAY au sein de Solectron Corporate.
- Nombreuses analyses effectuées sur tous types de cartes (analogique, numérique) venant de clients variés (Thales, Schneider, Nortel , Bull , etc.)
- Génération et mise au point de programmes de test pour testeurs Genrad, Teradyne et Spectrum.
- Etude et réalisation de tests fonctionnels embarqués sur testeur In Situ.
- Rédaction de spécifications pour le test fonctionnel de cartes électroniques.
Solectron
- Technicien test ICT / Fonctionnel / Fiabilité
Milpitas1992 - 2001- Génération de programmes de test et dossier de réalisation interface sur testeur Genrad 22xx, Teradyne Z18xx .
- Mise au point des programmes de test.
- Etude et réalisation de testeurs fonctionnel : test lecteur code barre, système de positionnement véhicule par radio.
- Etude et réalisation d'interface pour le test en température de cartes électroniques.
- Calcul et mise en place de profil de déverminage pour cartes et systèmes électroniques.
- Gestion du parc étuve (jusqu'à 15 étuves): calcul de charges, optimisation du parc étuves.
IBM
- Technicien test fonctionnel / fiabilité.
Bois-Colombes 1978 - 1992- Génération de programmes de test et mise au point sur testeurs fonctionnels dédicacés.
- Support technique en lignes de production sur site et en sous-traitance.
- A partir de 1989, collaboration avec le laboratoire de La Gaude au sein du service DAC (Design Assistance Center) pour la mise en place des stratégies de test cartes électroniques.