Mes compétences :
CEM
Electronique
Smart
Smart Grid
Entreprises
GETRALINE
- Responsable Bureau d'Etudes Electronique
2008 - maintenantConception de produits et matériels de télésurveillance d'équipements techniques d'immeuble (Ascenseurs, Chaufferies, escaliers mécaniques, VMC gaz...)
- Gestion d'une équipe d'ingénieurs développeurs (hardware et software) + SAV : 5 personnes
- Étude et recherche (électronique hardware/software embarqué, mécanique, intégration)
- Conduite de projets
- Rédaction de cahiers des charges
- Suivi de sous-traitance (électronique / mécanique)
- Achats
- Qualité (procédures, notices, essais de certification...)
- Ingénierie : CAO (Electronique ORCAD 16.5 / Mécanique SOLIDWORKS 2011)
- Veille concurrentielle
- Marketing (design produits, présentations commerciales...)
- Brevets
- Certifications CE et UL
- ...
Technologies :
- Microprocesseurs/microcontrôleurs embarqués
- Objets communicants connectés (Smart Grid)
- Télé-relève
- Alimentations secourues
- Communication sans fils (Modem/Radio)
- IHM (Tactile : Ecran LCD/TFT...; claviers)
- Acquisition et traitement du signal
Bureau Veritas
- Technicien d'essais CEM
Puteaux2007 - 2008Essais CEM conduits, rayonnés, sur plan, CRBM et foudre.
Secteurs Aéronautique et Défense
normes : DO160 / MIL-STD / STANAG / BOEING...
Limoges2006 - 2007Licence Professionnelle G.P.I option I.E.S.I.E. (Gestion de la Production Industrielle) - LIMOGES
Stage de fin de licence – CISTEME – Ester Technopôle – 87069 LIMOGES
C.E.M – Bibliographie de l’état de l’art, évaluation et conception de moyens de
protection pour la réduction des parasites HF émis par des équipements électriques
utilisés dans des exploitations agricoles.
Travaux réalisés pour le compte de RTE (Réseau de Transport d’Électricité).
Brive La Gaillarde2003 - 2006DUT GEII, Electronique / Informatique
Stage de fin de D.U.T. en Grèce – Laboratoire d’Informatique de l’Université d’Athènes
Développement, test et caractérisation – Écriture d’un logiciel et des algorithmes
en langage C générant des séries pseudo-aléatoires afin de tester et de caractériser des
composants fortement intégrés (VLSI).
