Notre société propose la caractérisation et la quantification de la microstructure de tous types de produits ou de matériaux par la technique de la microtomographie à rayons X.
Nous utilisons pour cela, le rayonnement synchrotron qui a les avantages suivants:
- haute résolution spatiale (100 nm - 10 microns)
- hautes énergies (> 100 keV)
- Cartographies à contraste spécifique (densité, interfaces, éléments chimiques ou structuraux)
Cette technique est non-invasive et non-destructive. Elle s'adresse généralement à l'étude des matériaux mais peut aussi être utilisée pour :
- le contrôle qualité
- le contrôle des procédés
- la métrologie
Nous proposons, de plus, le suivi de transformations (contraintes mécaniques, thermiques, hygrométriques...) in situ, l'analyse des images, la modélisation ainsi que la simulation de ce type d'essais.
N'hésitez pas à me contacter au 06 80 65 56 92
Mes compétences :
Fluorescence X
Rhéologie
CND
Mécanique
Métrologie
Imagerie 3D
Matériaux
Composites
Tomographie