Technicien développeur de programmes de test pour cartes électroniques, VALEO
- test In Situ ( IFR, Rohde&Schwartz, HP, BoundaryScan )
- test fonctionnel ( C, LabWindows CVI, Rohde&Schwartz, protocoles de communication VAN CAN LIN )
Mes compétences :
LabWindows CVI
LabVIEW
Programmation langage C
Test in situ
Test fonctionnel
Vision COGNEX