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Alain SALLES

Colombelles

En résumé

Après une thèse portant sur le développement d’inductances intégrées pour convertisseurs DC/DC, j'ai intégré la société Freescale Semiconductor.
Je suis en charge de la caractérisation ESD (Electro-Static Discharges) des produits destinés au marché automobile. Dans ce cadre j'assure le déploiement des standards de test avec le développement de l'environnement d'essai (hardware et software), la conduite des plans de test depuis leur création et le support client sur tous nos produits.
Mon activité comporte également un volet R&D, en collaboration avec nos experts design ESD, sur l'amélioration de la robustesse des structures de protection ESD ainsi que sur la compréhension des phénomènes par la mise en oeuvre de systèmes de mesure innovants. Ces travaux permettent la rédaction de publications et de brevets.

Mes compétences :
Labview
Microélectronique
Instrumentation

Entreprises

  • NXP Semiconductors - ESD Design&Validation Engineer

    Colombelles 2015 - maintenant

  • Freescale Semiconductor - Ingénieur caractérisation

    Toulouse 2008 - 2015 Responsable de la caractérisation ESD des produits ASICs automobiles

  • Sogeti High Tech - Ingénieur Projet

    TOULOUSE 2007 - 2008 --> Mission chez Freescale
    Caractérisation électrique produits

  • LAAS-CNRS - Ingénieur de recherche

    2003 - 2007 Thèse de doctorat en micoélectronique pour l'électronique de puissance.

    "Conception d'inductances intégrées pour alimentation DC/DC de faible puissance"

    Modélisation sous Coventorware et Matlab
    Méthodologie de conception
    Réalisation en salle blanche
    Caractérisations électriques

    Encadrements de stagiaires (3)

    Enseignements :
    - CAO microélectronique
    - Conception d'alimentation DC/DC
    - Electricité du bâtiment
    - Acoustique

  • LAAS-CNRS - Ingénieur d'étude

    2002 - 2002 "Modélisation et caractérisation d'inductances appliquées aux hyperfréquences"
    Simulation aux éléments finis
    Participation à la mise en place du procédé technologique en salle blanche

  • LEN7 - Assistant ingénieur

    2001 - 2001 « Réalisation d’un banc de mesure hyperfréquence : application à la mesure de diagrammes de rayonnement d’antennes fractales (Sierpinsky)."

    Mise en place d'un banc d'acquisition de mesure à l'aide du logiciel Labview pour établir le diagramme de rayonnement d'une antenne

  • LAAS-CNRS - Assistant ingénieur

    2000 - 2000 « Acquisition de données sous LABview : application à la caractérisation électrique de structures capacitives MOS à couche d’oxyde (SiO2) ultra-mince. »

    Le travail consistait à mettre à jour un banc de mesure de C(V) à l'aide du logiciel Labview
    Les mesures effectuées à l'aide du banc ont permis la validationn de modèles de simulation

    Sur la base de ce banc, d'autres modules de mesure ont été développés pour répondre aux besoins de caractérisation de différents services.

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