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Amandine AUBERT

TOURS

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Entreprises

  • STMicroelectronics - Tours - Ingénieur innovation en analyse de défaillance (PhDstudent)

    2008 - maintenant - Recherche et développement de méthodes de préparation d’échantillons pour l’analyse de composants électroniques innovants (chimie, mécanique, plasma, laser) et de techniques de testabilité électrique

    - Analyses technologiques des composants (Microscope optique, MEB, EDX, SAM, X-ray)

  • STMicroelectronics - Tours - Ingénieur innovation en analyse de défaillance (DRT)

    2007 - 2008 - Mise en place et optimisation de nouveaux outils de préparation d’échantillons pour l’analyse de composants électroniques (chimie, mécanique, plasma, laser)

    - Développement et optimisation de méthodes de préparation d’échantillon

    - Analyses technologiques et de défaillance des composants (Microscope optique, MEB, EDX, SAM, X-ray, OBIRCh)

  • Royal Institute of Technology of Sweden - KTH - Ingénieur en caractérisation physique (stagiaire)

    2006 - 2006 - Caractérisation de matériaux III-V sur Silicium et Silicium-Sur-Isolant réalisés par HVPE et MOCVD (MEB, Photoluminescence, Cathodoluminescence)
    - Caractérisation structurale de matériaux sur GaN (HR-XRD avec cristaux multiples et axe triple incluant des cartographies en espace réciproque)

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