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Jonathan ELIAS

Clermont-Ferrand

En résumé

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Entreprises

  • EXOTIC SYSTEMS (Connected Objects, M2M) - Ingénieur Développement

    Clermont-Ferrand 2016 - maintenant
  • Sfériel - Stagiaire

    2015 - 2015 La société Sferiel crée des produits innovants, qui utilisent, des technologies récentes en matière de comptage de véhicules. Son bureau d’étude a pour mission de concevoir des systèmes électroniques embarqués, ainsi que des logiciels permettant le recueil et l’analyse de données du trafic routier.

    Le sujet concernait l’étude et la réalisation d’un banc de test pour des « buzzers ». Ces composants sont utilisés par paire sur les produits de comptage, ils jouent le rôle de « capteurs piézoélectriques » permettant de détecter le passage de l’essieu d’un véhicule.

    Ces composants ne disposent d’aucune caractérisation en terme de sensibilité et le sens de leur polarité varie de l’un à l’autre. Mon rôle a été de développer une solution électronique permettant l’appairage de ces capteurs.

    On m’a confié l’ensemble du projet, par la prise en charges des aspects électroniques, mécaniques et logiciels du banc de test. J’étais aussi présent sur l’apparence et l’ergonomie, en concevant le design mécanique final du produit.

    La première étape, concernait l’étude et les simulations des parties électroniques du banc de test. Cette partie a débuté par la connaissance du fonctionnement d’une membrane piézoélectrique, par le choix d’un moyen de solliciter le capteur, et par des simulations et prototypages sur un système de sécurité destiné à commander un haut-parleur par un microcontrôleur.

    La seconde étape, concernait la saisie du schéma et le routage de la carte électronique du banc de test sous le logiciel EAGLE. Cette partie traitait le choix des composants
    et l'étude de leur encombrement sur la carte.

    La troisième étape, traitait de la programmation du microcontrôleur MSP430F149 sous l’interface de développement IAR.

    La dernière étape concernait l’étude et la fabrication mécanique d’un support pour le capteur sous test.

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