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Karen DABERTRAND

VILLARD-BONNOT

En résumé

Mon projet: Recherche de l’expertise technique

J'aime: apprendre, comprendre, développer et partager des projets innovants avec des équipes dynamiques
Je suis:
- Enthousiaste
- Intègre
- Autonome


Mes compétences :
CMOS
XPS
Transistors
Statistical Process Control
OCAP
FTIR
FMEA

Entreprises

  • STMicroelectronics - Ingénieur Metrologie de surface et composition

    2010 - maintenant - Démarrage et industrialisation des équipements technique de Photoélectron des Rayons-X (XPS), de Fluorescence (XRF), et Infra-Rouge (FTIR)
    - Développement et optimisation des recettes de mesures pour les technologies avancées.
    - Rédaction de plans de qualification, de procédures, fiches de poste et modes opératoires.
    - Support à la production et R&D.
    - Collaboration avec l’équipementier US

  • STMicroelectronics - Métrologie Optique pour la lithographie

    2006 - 2010 - Génération de modèles optiques – Technique de scattérométrie
    - Evaluation des performances, qualification et validation des protocoles de mesure. Sécurisation et contrôle des équipements. Contrôle de procédés critiques : photolithographie et gravure.
    - Conférence et publication SPIE 2008

  • STMicroelectronics - Doctorat

    2003 - 2006 Intitulé de la thèse : « Croissance de diélectriques à forte permittivité par la
    technique MOCVD en phase liquide pulsée : élaboration et caractérisation de
    films d’oxyde d’hafnium HfO2 ».
    - Croissance de films minces par MOCVD
    - Caractérisation des films
    - publications et conférences
    - Collaboration avec Equipementier

Formations

  • Université Grenoble 1 Joseph Fourier

    Grenoble 2003 - 2006 Doctorat

    Thèse CIFRE STMicroelectronics. Collaboration avec le CNRS-LTM, le CEA-LETI et Université Joseph Fourier (UJF)

  • Ecole Supérieur D'Ingénieurs De Marseille ESIM (Marseille)

    Marseille 2002 - 2003 Master en technologie et management de la production

    Master en technologie et management de la production. Collaboration entre STUniversity, l’École Supérieur d’Ingénieurs de Marseille.

  • Institut Des Sciences Et Techniques De Grenoble ISTG MGEI

    Grenoble 2001 - 2002 Diplôme de Recherche Technologique

    DESS Techniques et Applications de la Physique (UJF-Grenoble). Caractérisation des surfaces et couches minces : physique des matériaux, technologie des semi-conducteurs, physique des surfaces.

Réseau

Annuaire des membres :