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Mathieu FRÉGNAUX

Paris

En résumé

Docteur en Physique
Je suis spécialiste en optique, couches minces et nanostructures
Organisé, riguoureux avec de fortes qualités relationnelles
5 ans d'expérience

Mes compétences :
Quantum Dots
Semiconducteurs
Nanomatériaux
Spectrométrie Raman
Microscopie électronique
Spectrométrie de masse
Diffraction des rayons X
Ellipsométrie
Spectrométrie optique
Fonctionnalisation
Microscopie à force atomique
XPS
Matériaux 2D
Caractérisation des matériaux
Veille technologique
Analyse de surface
Recherche de financement
Encadrement
MATLAB
Publications et congrès scientifiques
Croissance et dépôts
Gestion de projet
Recherche scientifique
Couche mince
R&D
Veille scientifique

Entreprises

  • CNRS - Ingénieur de Recherche

    Paris 2015 - maintenant Institut Lavoisier de Versailles (ILV - UMR 8180)
    Centre d'Etude et de Formation des Spectroscopies de Surface (CEFS2)

    - Analyses XPS et ARXPS
    - Microscopie électronique à balayage (SEM-EDS, EBSD)
    - Nano-sonde Auger
    - Préparation d'échantillons
  • CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Ingénieur Chercheur

    2014 - 2015 Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (LETI)
    Département Technologies Silicium (DTSI)
    Service de Caractérisation des Matériaux & Composants (SCMC)

    "Etude combinée par photoluminescence et photoémission localisée de mono-feuillets bi- dimensionnels (2D) de dichalcogénures de métaux de transition : MoS2 et WS2"

    - Développement d'un protocole de laboratoire pour la caractérisation avancée de couches ultraminces
    - Analyses XPS
    - Spectromicroscopie de photo-électrons dans l'espace direct (XPEEM) et réciproque (k-PEEM)
    - Mesure de la bande de valence et du travail de sortie
    - Spectrométrie Raman
    - Micro-photoluminescence à basse température (5K)
    - Influence du substrat sur la structure de bande et les propriétés optoélectroniques
    - Microscopie à force atomique
  • Université de Strasbourg - Chercheur - ATER

    Strasbourg 2013 - 2014 Attaché Temporaire d'Enseignement et de Recherche (ATER)
    Enseignements à Télécom Physique Strasbourg

    Laboratoire des Sciences de l'Ingénieur, de l'Informatique et de l'Imagerie (ICube, UMR 7357)
    Département Électronique du Solide, Systèmes & Photonique (D-ESSP)
    Équipe Matériaux pour Composants Électroniques et Photovoltaïques (MaCEPV)

    Caractérisation par spectrométries optiques de nanocristaux de silicium (Si) et germanium (Ge) dopés, formés par implantation ionique
    Etude par spectrométrie Raman de nanocristaux ternaires III-V (InxGa1-xAs) formés par implantation ionique dans une matrice Si

    - Co-implantation de Si et d'espèces dopantes (P, As et B) dans la silice SiO2
    - Spectrométrie d'absorption, de photoluminescence (PL) et d'excitation de PL
    - Spectrométrie Raman et infrarouge
    - Mesures de durées de vie de PL
    - Effet du dopage (type n et p) sur les propriétés optiques
    - Mesures électriques: I-V et C-V
  • CNRS - Chercheur - Contrat de recherche post-doctoral

    Paris 2013 - 2013 Ecole Nationale Supérieure des Industries Chimiques (ENSIC, Nancy)
    Laboratoire Réactions et Génie des Procédés (LRGP, UMR 7274)

    ANR « NANOZnOTOX » : Bioperception, toxicité et stabilité de quantum dots d’oxyde de zinc (ZnO)

    - Synthèse de quantum dots d'oxyde de zinc (ZnO)
    - Fonctionnalisation (aminosiloxanes)
    - Caractérisation par spectrométrie optique
    - Analyses structurales
    - Métrologie des nanomatériaux
    - Evaluation de la production d'espèces réactives de l'oxygène (ROS)
  • Université de Lorraine - Doctorat en Physique - Spécialité Physique de la Matière Condensée

    Nancy 2009 - 2012 Physique et Chimie des nanomatériaux semiconducteurs:

    Élaboration et caractérisation de nanocristaux de sulfure de cadmium - dépôt en couches minces nanostructurées

    Laboratoire de Chimie et Physique: Approche Multi-échelles des Milieux Complexes
    (LCP-A2MC, EA 4632)

    Elaboration et caractérisation de nanocristaux semi-conducteurs de type II-VI :
    Développement de méthodes de croissance chimique : voies thermique et micro-ondes (approche bottom-up)
    Utilisation de méthodes d’analyses conjointes adaptées à l’étude des nanocristaux :
    - Diffraction des rayons X
    - Spectrométrie de masse et microcopie électronique
    - Spectrométrie optique d’absorption et de photoluminescence
    - Analyse excitonique - confinement quantique
    - Etude de la stabilité face à l’oxydation et à la fonctionnalisation (états de surface)
    Dépôt par spin coating de couches minces contenant des nanocristaux
    Analyses structurales et caractérisation optique de films minces
  • Université Paul Verlaine, Metz (LPMD-LSMCL) - Stagiaire Master

    2009 - 2009 Elaboration et caractérisations physico-chimiques de nanocristaux de semi-conducteurs

Formations

Réseau

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