VILLENAVE D'ORNON
Mes compétences :
Travail en atmosphère contrôlée
Microscopie à force atomique
Fabrication de dispositifs (OFETs, OPVs)
Caractérisation de dispositifs (OFETs, OPVs)
modification de surface (polymères, SAMs)
Spectroscopie
caractérisation de surface
Transistors
Capacitors
Semiconductors
XPS
Sorties
Microsoft Word
Microsoft PowerPoint
Microsoft Excel
Matlab
Diodes
Autocad
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