-
STMicroelectronics
- Ingénieur validation
2018 - maintenant
Validation de nouveaux produits, type ISP (Image Signal Processor) et Capteur d’image, dans un environnement applicatif.
Outils : Python, STM32
-
Alpes Instruments
- Chef de Projet Mécatronique - Concepteur Electronique
2018 - 2018
Chef de Projet Produits Mécatroniques / Bancs de Tests Pneumatiques, secteur Aéronautique.
Concepteur Electronique Analogique pour traitement obsolescences sur carte Régulateur.
Outils : OrCAD, LTspice, CADSTAR
-
Rolls-Royce
- Ingénieur Validation Cartes Electroniques & Moyens d'Essais
Bracknell
2015 - 2018
Validation cartes électroniques pour systèmes mesures neutroniques au sein d'un service Conception Electronique.
Développement de Moyens d’Essais Prototypes, reprises Gestions Techniques de cartes électroniques analogiques et numériques sur testeurs VXI, rénovation testeur de Puissance pour Programmes d’Essais Séries.
Testeurs et Moyens pilotés sous TestStand, LabVIEW & LabWindows/CVI (suite National Instruments).
-
Schneider Electric
- Ingénieur Maintenance et Optimisation Bancs de Test
Rueil Malmaison
2015 - 2015
Maintenance et optimisation d’interfaces de test pour différentes lignes de Production.
Testeurs industriels pilotés sous TestStand, LabVIEW & LabWindows/CVI.
-
Bio-Logic
- Ingénieur Test Electronique
2015 - 2015
Au sein du service Production, interlocuteur technique privilégié du Bureau d’Etudes, notamment dans le cadre du test de nouveaux produits avant industrialisation.
Etude (DFX/DFT) de la testabilité des cartes électroniques.
Automatisation des solutions (TestStand/LabVIEW) et amélioration des moyens de Test des cartes et produits électroniques.
Support technique au service Achat et au Responsable prototypes, notamment dans les interactions avec les sous-traitants de fabrication des cartes électroniques (EMS).
Architecture d’un testeur industriel « low-cost » à base d’une carte électronique à cœur µC STM32.
-
Adeunis RF
- Ingénieur Test & Développement Electronique
Crolles
2014 - 2014
* Développement, test et qualification d'un nouveau produit audio wireless RF avec des fonctions électroniques complémentaires.
* Définition et écriture des plans de test et modes de test, vérification, mise au point des fonctions et vérification des conformités normatives.
* Définition, développement, choix des composants et test des fonctions de recharge de batterie lithium-ion, alimentation issue de cette batterie et d'une fonction d'éclairage LED de puissance.
-
Schneider Electric
- Ingénieur Vérification Electronique
Rueil Malmaison
2013 - 2014
* Elaboration de plans de test (TestLink) et développement des solutions de test automatique (TestStand + LabVIEW) pour la vérification (Hardware + Firmware) d'une carte électronique (architecture basée sur ASIC + µC STM32/STM8) pour famille de produits disjoncteurs à déclencheur électrotechnique.
-
E2V
- Ingénieur Responsable Mesures
2012 - 2013
* Mesures et développement pour amélioration/évolution de solutions de caractérisations des performances de produits capteurs d'images pour applications spatiales.
* Notamment solutions pour l'automatisation et asservissement d'un flux lumineux et caractérisation de la chaîne d'acquisition du signal vidéo (carte microcontrôleur, composants analogiques et CAN...).
-
SiBOT Technologies
- Ingénieur Consultant Indépendant
2011 - 2012
* Ingénierie technique, bureau d'étude et prestations de services dans les domaines de l'électronique, l'informatique et la robotique (conception, validation, bancs de test).
-
STMicroelectronics
- Ingénieur Validation
2006 - 2011
STMicroelectronics/STEricsson, Grenoble Polygone Scientifique.
* Ingénieur Validation Electrique et Caractérisation sur cartes de développement d'applications pour une famille de processeurs d'applications multimédias, System on Chip ( SoC ), ARM9 core.
* Développement des programmes en C via les outils ARM.
* Encadrement d'une équipe de 4 personnes, gestion de projets et réalisations des plans de travail (Ms Project).
* Spécifications des cartes de test et développement d'une nouvelle méthodologie de caractérisations sur interfaces critiques du produit (Flash-NAND, SD/MMC, SPI, I2C, CCP, CSI2...) basée sur testeur de laboratoire (IMS) et environnement validation (capture puis génération de patterns de test, émulation périphériques, mesures Entrées/Sorties (I/O)), étude de faisabilité d'une solution à base de FPGA.
* Développement d'un banc de test et caractérisation dédié à l'interface contrôleur DDR-SDRAM du produit, basé sur une solution Agilent (Générateur de Pattern + Analyseur Logique couplé avec Oscilloscope) et piloté sous HTBasic ; précisions de mesures 20ps en analyse, 70ps en génération. Encadrement de sous-traitants pour la partie automatisation Python.
-
STMicroelectronics
- Ingénieur Test Numérique
2004 - 2006
* Ingénieur Test sur testeur industriel digital Schlumberger ITS EXA.
* Développement de programmes de test pour la caractérisation et l'industrialisation d'une famille de processeurs multimédias SoC (téléphone mobile).
* Process (XUTIL) de Pattern test (structurel : SCAN, BIST ; fonctionnel : caractérisation).
* Design de cartes de test (tri final, EWS).
-
STMicroelectronics
- Ingénieur Test Analogique
2003 - 2004
* Ingénieur Test sur testeurs industriels mixtes Teradyne (Catalyst, A580, A565).
* Développement de programmes de test pour vérification de cartes (board checker), pour produits mixtes (power management).
-
Texas Instrument
- Ingénieur Test / Produit
Colombes
2003 - 2003
: Texas Instrument, Villeneuve-Loubet, Ingénieur Consultant Alplog (groupe ALTRAN), mission.
* Ingénieur Test/Produit, test de composants wireless.
* Développement de programme de test sur testeur industriel (Fusion, LTX).
* Validation de design et debug en interaction avec les équipes de conception.
* Mise en place d'un flot de caractérisation.
-
STMicroelectronics
- Ingénieur Validation & Caractérisation
2002 - 2002
* Développement de programme de test (flow LabVIEW, pattern test).
* Validation et caractérisation de mémoires non volatiles sur testeur IMS et prober.
-
STMicroelectronics
- Ingénieur Layout Team Leader
2001 - 2001
* Management d'une équipe de 6 personnes (TILT) dédiée au développement (layout) de structures de test en technologies CMOS et BiCMOS.
* Travail en étroite collaboration avec les équipes de Filières, Caractérisation et Process des différentes technologies en R&D.
-
STMicroelectronics
- Ingénieur Caractérisation Micro-électronique
2000 - 2000
* Test et caractérisations de bibliothèques (SRAM, ROM, multiplieurs, chaines d'inverseurs, I/Os...), sur test-chips packagés, en technologie HCMOS 0.18µm, sur testeur IMS et flow LabVIEW.
-
STMicroelectronics
- Ingénieur Layout
1999 - 2000
* Développement de structures de test en technologies CMOS (0.25, 0.18, 0.13 et 0.10 µm) et BiCMOS (0.35, 0.25 et 0.18 µm).
* Design et Layout de dispositifs (MOS, bipolaires, jonctions, capacités, résistances, selfs, Flash-EEPROM...).
* DRC, LVS, Stream Out, générations de dummies sous Calibre.
