2008 - maintenantMes tâches principales sont les suivantes:
- Suivi de fournisseur pour des caméras TV, IR, IL
- Rédaction de spécifications et DJ
- Dimensionnement de systèmes optroniques
- Simulation de performances de systèmes optroniques
- Validation de systèmes optroniques
IAS
- Ingénieur Instrumentaliste
LAUDUN2007 - 2008Chargé du design sous ZEMAX de 2 objectifs pour microscope, un dans le visible et l'autre dans l'infrarouge (0.8 à 2.5µm). Rédaction du cahier des charges, lancement de l'appel d'offre, et sélection du sous-traitant pour l'optique visible. Chargé des relations avec le sous-traitant et de son suivi. Chargé du test et de la validation de l'ensemble CCD+objectif pour la partie visible ainsi que de la rédaction du plan de test. Etude sous Zemax de la lumière parasite créé dans l'objectif par l'éclairage des LEDs intégrées.
SODERN
- Ingénieur détecteur (Stage)
Limeil-Brévannes2007 - 2007Chargé de rédiger le protocole de test pour un détecteur CMOS (APS) utilisé dans le spatial à partir de la norme ESA 25000, puis de le valider sur un banc de caractérisation opto-électronique à adapter. Programmation sous Matlab d'une IHM et des programmes de traitement d'image validant les paramètres du détecteur (Gain, Réponse spectrale, FTM, bruits, crosstalk). Projet mené en relation directe avec le fabricant du détecteur et rédaction du plan de test en anglais pour le client.
Display Institute (Taïwan)
- Ingénieur Optique (stage)
2006 - 2006Chargé de réaliser et de simuler un montage optique permettant la génération d'une lumière laser radialement polarisée par interférence de 2 faisceaux de Laguerre-Gauss. Etude des applications potentielles et de l'état de l'art en stockage optique, pinces optiques et plasmon de surface.
Silicon Microsystems
- Technicien en électronique (stage)
2005 - 2005Chargé de caractériser un ASIC pour ensuite rédiger sa datasheet en anglais. Conception et réalisation d'une carte de test pour ce même ASIC, étude de la CEM, avec participation à la conception du logiciel de test en VBasic. Caractérisation fréquentielle d'un piezo transducer (PZT).
