POIGNY-LA-FORÊT
Expert en nanométrologie :
- conception d'instruments de référence (microscope à force atomique métrologique, SNOM, machine à mesurer de très haute précision) dont la mesure est traçable au Système International d'unités
- étalonnage d'étalons dédiés à la microscopie
- conception de banc pour la caractérisation et l'étalonnage de capteurs
- étalonnage de microscope (champ proche, électronique, optique, ...)
- application à la métrologie des nano-objets (nanoparticules de SiO2, de TiO2, d'or, de polystyrène, de NTC, de fibres de carbone, fibre optique...)
- participation à l'élaboration d'une plateforme de caractérisation métrologique des nanomatériaux destinée à la mesure des principaux paramètres caractérisant un nano-objet (taille, forme, polydispersité, composition chimique, état d’agrégation/agglomération, charge en surface, surface spécifique…)Array
- participation à des projets nationaux et internationaux
- animateur du groupe de travail Instrumentation du club Nanométrologie ww.club-nanometrologie.fr
Profil Researchgate : https://www.researchgate.net/profile/Sebastien_Ducourtieux2
Profil Linkedin : https://www.linkedin.com/in/s%C3%A9bastien-ducourtieux-668395a8?trk=nav_responsive_tab_profile_pic
Mes compétences :
Interférométrie
Microscopie électronique
Microscopie à force atomique
Microscope en champ proche optique
Labview
Métrologie
Instrumentation scientifique
Nanométrologie
Temps réel
FPGA
Développement d'instruments
