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Simon DESBIEF

Fuveau

En résumé

MICROSCOPIE A SONDE LOCALE : AFM (mode contact, oscillant et non contact, à l’air ou en liquide) ; EFM / KPFM (à l’air et sous ultra vide) ; C-AFM ; PeakForce TUNA ; PeakForce QNM; Harmonix.

MICROSCOPIE OPTIQUE : imagerie en transmission et réflexion, contraste de phase interférentiel.

FOCUSED ION BEAM: Préparation de lames TEM

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY

PROFILOMETRIE OPTIQUE 3D

TRAVAIL EN SALLE BLANCHE (ISO 5)

FABRICATION DE FET : résinage, lithographie, métallisation…

CARACTERISATION : FTIR, spectroscopie UV-Vis, goniométrie, ellipsométrie, profilométrie, mesures 4 pointes, I-V, static FET characterization, pulse measurements, discharge measurements, C‐V.

DEPOT DE FILMS ORGANIQUES : Spray-Coating, Drop-casting, Spin-Coating, Dip-Coating, Nanostructuration de surface par voie chimique, auto-assemblage moléculaire, évaporation de molécules organiques, enrobage de nanoparticules.

Mes compétences :
AFM
Polymers
PO3D
FIB
Peak Force
Tapping Mode
Peak Force QNM
Thin films
Organic electronics
Synapstors
Peak Force TUNA
KPFM
Nanoparticles

Entreprises

  • Biophy Research - Responsable pole Microscopie a force atomique

    Fuveau 2015 - maintenant AFM, FIB, PO3D

  • IEMN - Chercheur post doc

    2012 - 2015 optimisation de la technologie NOMFET

  • Université de Mons - Post doc

    2006 - 2012 Au cours de ce post doc, j'ai developpé mon expertise en Scanning Probe Microscopy principalement sur les systemes Bruker nano AXS (precedemment Veeco) sur des systemes organiques a vocation photovoltaique.
    Ainsi, parallement aux modes classiques d'imagerie (Tapping et contact modes), j'ai fait des etudes poussées en Conductive AFM, Kelvin Probe Force microscopy, Electrical AFM permettant de mieux comprendre les propriétes de conduction de polymeres semi-conducteurs.
    Les modes de caracterisation mecanique tels que l'Harmonix et le peak Force QNM ont permit de sonder localement les propriétes des materiaux etudiés.
    Dernierement, nous avons travaillé sur le prototype du PeakForce TUNA, une technique qui permet d'obtenir en simultanné un mapping des propriétes mecaniques et electriques des materiaux, tout en preservant la morphologies grace a une force de contact extremement controllée de l'ordre de la dizaine de pN, le tout avec une resolution spatiale inférieure a la dizaine de nm.
    Ces caractérisations nous ont permis de realiser des etudes sur les regimes de transport de melanges polymeres semi-conducteur/ nanotubes de carbone.

  • L2MP - CNRS - Doctorant

    2002 - 2006 These de doctorat sur la formation de nano-domaines dans les monocouches mixtes d'alkyltrichlorosilanes sur Silicium.
    apprentissage des methodes de depot et auto-assemblage de molecules organiques.
    apprentissage de l'imagerie AFM, Ellipsométrie, FTIR, ....
    Modelisation de le croissance des monocouches
    Programmation MatLab

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