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Valerie PARET

Longjumeau Cedex

En résumé

HORIBA Jobin Yvon fournit des équipements dans lesquels la spectroscopie optique est le dénominateur commun et compte un très grand nombre d'utilisateurs dans l'industrie et la recherche publique et privée.
Son offre comprend des réseaux de diffraction (OEM) et des spectromètres miniatures ainsi que des sources lumineuses, spectromètres, détecteurs monocanaux, CCD et solutions électronique et logiciel pour la spectroscopie optique. Elle est également composée d'équipements pour l'ellipsométrie spectroscopique, la spectroscopie Raman, la spectrofluorimétrie, l'imagerie par Résonance de Plasmon de Surface (SPRi), la fluorescence X, la spectrométrie d'émission à Plasma à Couplage Inductif (ICP-OES) et la spectrométrie à Décharge Luminescente RF (SDL).

Mes compétences :
Gestion de projets
optique
métrologie
Recherche et Développement
Salle blanche
Technique du vide
Instrumentation
Relations clients
Gestion de la relation client

Entreprises

  • HORIBA Jobin Yvon - Responsable "Solutions Spécifiques" au département Recherche&Développement

    Longjumeau Cedex 2014 - maintenant Au sein du service R&D de Horiba Jobin Yvon, notre service développe l'offre de produits non standard.
    Nous accompagnons notre client depuis l'appel d'offre, pour la définition des spécificités, l'étude de faisabilité technique et financière, puis le pilotage des projets et la validation des instruments livrés.

  • HORIBA SCIENTIFIC - Chef de Projet R&D

    2011 - 2014 HORIBA Jobin Yvon fournit des équipements dans lesquels la spectroscopie optique est le dénominateur commun et compte un très grand nombre d'utilisateurs dans l'industrie et la recherche publique et privée.
    Son offre comprend des réseaux de diffraction (OEM) et des spectromètres miniatures ainsi que des sources lumineuses, spectromètres, détecteurs monocanaux, CCD et solutions électronique et logiciel pour la spectroscopie optique. Elle est également composée d'équipements pour l'ellipsométrie spectroscopique, la spectroscopie Raman, la spectrofluorimétrie, l'imagerie par Résonance de Plasmon de Surface (SPRi), la fluorescence X, la spectrométrie d'émission à Plasma à Couplage Inductif (ICP-OES) et la spectrométrie à Décharge Luminescente RF (SDL).

    Technologie clés
    • Réseaux de diffraction
    • Spectroscopie optique de l'X au FIR
    • Analyseurs élémentaires et moléculaires
    Marchés applicatifs
    • Recherche académique : Physique, Chimie, Biologie, SVT
    • Biotechnologies & nanotechnologies
    • Chimie Fine
    • Pharmacie & Cosmétique
    • Energie fossile & renouvelable

  • CAMECA - Application Scientist

    Gennevilliers 2005 - 2011 Depuis sa création en 1929, CAMECA est reconnue pour sa mécanique de précision, l'optique et l'électronique. Pionnier de la microanalyse par sonde électronique (EPMA) dans les années 1950 et de la spectrométrie de masse d’ions secondaires (SIMS) dans les années 1960, CAMECA est resté le leader mondial incontesté dans ces techniques, tout en réalisant des innovations importantes dans de nombreuses techniques complémentaires. Depuis 2007, CAMECA fait partie de la Division MAD (Material Analysis Division) du groupe AMETEK Inc

    Domaine de la caractérisation de semiconducteurs via la technique LEXES (Low Energy X-Ray Emission Spectroscopy) sous environnement salle blanche classe 1.
    - Etude et validation des éléments techniques du Shallow Probe (Technique LEXES)
    - Validation des appareils de production avant envoi chez le client
    - Démonstrations, installations et training auprès des clients : fréquents voyages à l’étranger
    - responsable des échantillons référence du shallow probe
    - responsable du mini-environnement salle blanche classe ISO 5

  • SOPRA SA - Chef de Projet R&D

    Paris 2000 - 2005 Chef de projet d'un réflectomètre EUV (13nm) dans le cadre d'un projet Français PREUVE sur la lithographie EUV

  • Cambridge University - Research Associate- Engineering Department

    1999 - 2000 Conception et mise au point d'un montage de CPM (constant photocurrent method) pour mesurer avec une grande précision le coefficient d'absorption optique d’échantillons faiblement absorbants à partir de mesures de photoconductivité en vue d'applications pour les cellules photovoltaïques

  • Université Pierre et Marie-Curie - ATER

    1998 - 1999 Attaché temporaire à l'Enseignement et à la Recherche : Utilisation de montage optique pour l'étude de l'absorption de verres dopés pour des applications dans les télécommunications

  • Université Pierre et Marie CURIE / Laboratoire d'Optique des Solides - Doctorat en Optique t Photonique

    1995 - 1998 "Caractérisation optique de matériaux complexes sur une large gamme spectrale à l’aide de techniques optiques et photothermiques : application au carbone amorphe hydrogéné ". Thèse soutenue le 21 janvier 1999, obtenue avant mention très honorable et félicitations du Jury.
    Mon travail était consacré à l'étude optique,sur une très large gamme spectrale (de l'UV sous vide à l'IR lointain), de couches minces de semi-conducteurs amorphes: a-Si:H, a-C:H. Mon but était de mettre en évidence et d'analyser, pour mieux les maîtriser, les relations entre les propriétés
    électroniques et vibrationnelles du matériau et ses conditions d'élaboration. J'ai dû utiliser, en les adaptant à chaque cas, plusieurs techniques complémentaires: spectrophotométrie, ellipsométrie spectroscopique, spectrométrie IR à transformée de Fourier. J'ai été amenée à me spécialiser dans la mesure des très faibles coefficients d'absorption par des méthodes basées sur les effets photothermiques (PDS), que j'ai d'abord appliquées aux couches minces de semi-conducteurs amorphes (en relation notamment avec les cellules photovoltaïques), puis à des verres, polymères, etc... J'ai,
    pour cela, conçu, réalisé et optimisé différents montages très performants.

Formations

  • Université Pierre Et Marie Curie (Paris)

    Paris 1990 - 1999 Physique

Réseau

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