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Erems
- Ingénieur Electronicien
Flourens
2016 - maintenant
Spécification et définition architecture banc de test
Conception Electronique carte
Intégration et test système
Suivi réalisation et sous-traitant
Pilotage amélioration continue du process de conception banc de test
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Alten Technology France
- Automotive System Engineer
Boulogne Billancourt
2014 - 2016
- Design capteur embarqués (Mecanique, Electronique, Software)
- Support à la mise en production
- Analyse retour client
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Ausy
- Ingénieur développement electronicien
Sèvres Cedex
2011 - 2013
- Chef de projet hardware pour équipement aéronautique sous norme DO254 et DO178B
- Spécification de système électronique et de cartes électronique (DSP)
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SII
- Ingénieur Electronicien
Paris-13E-Arrondissement
2008 - 2011
- Spécification, conception, validation et tests de carte numérique(DSP, FPGA...) et carte analogique (carte protection foudre, filtrage, alimentation...)
- Suivi des test de qualification CEM (Spike, BCI, Foudre) sur boitier comprenant plusieurs carte numériques.
- Recherche et développement: conception de démonstrateur pour réseau de capteurs sans fil (Zigbee) pour application aéronautique
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Serma Ingenierie
- Ingenieur Developpment Electronique
Guyancourt
2007 - 2008
- Validation et vérification (au sens DO254: Dal B) d'une carte numérique FPGA en VHDL (Thales Avionics , Projet S76):
- Écriture et déroulement de la procédure de test
- Mise à jour du test bench
- Conception d'un carte numérique FPGA (Dal B)pour application aéronautique (Eurocopter, Projet EC175)
- Conception des interface numériques et analogiques
- Documentation associée à une carte numérique Eurocopter (EC225)
- Justification des choix techniques numériques et analogiques
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Autocruise (Groupe TRW)
- Ingénieur Qualité Produit
2007 - 2007
- Réparation des radars défectueux
- Amélioration du processus d'expertise en production
- Mises en place d'actions correctives
- Validation des nouvelles versions logicielles
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ATMEL GmbH (Heilbronn, Baden Württemberg)
- Ingénieur Développement
2004 - 2006
- Modélisation de composants microélectroniques (diodes, capacités, MOS, Bipolaire, résistances...). Méthode d'extraction de paramètres physiques des composants (longueur effective, dopage...°
- Mise en place d'une structure de modèles statistique pour tous les types de modèles. Un modèle statistique reproduit en simulation les déviations du procédé de fabrication et permet ainsi une meilleure prévision de rendement du design.
- Support aux utilisateurs des modèles
- Mesures en laboratoire: Paramètres S, Hyperfréquence...
