logo
Menu

Xavier BOUCHER

Boulogne Billancourt

Résultats examens 2026

RETROUVEZ GRATUITEMENT Le résultat du bac à Aix-en-ProvenceLe résultat du brevet à Aix-en-Provence

En résumé

Mes compétences :
Vente
Négociation
Prospection
Réseaux & Télécoms
Communications Unifiées
Data Center

Entreprises

  • Davidson Consulting - Manager

    Boulogne Billancourt 2016 - maintenant Davidson EST

    - Développement commercial (Détection d'opportunités / Rédaction des offres techniques et financières)
    - Recrutement de consultants
    - Management (Consultants / Projets)

    Davidson Consulting est une entreprise de Conseil en Expertises et Management de Projets (Actuellement : >1700 personnes et CA >130 M€ annuel).
    Secteur IT :
    - Développement (Applicatif / Web / Mobile)
    - Infrastructure (Système & Réseau)
    - Business Analysis (SGBD / BI)

  • SPIE Communications - Ingénieur d'Affaires

    Cergy 2013 - 2016 Agence Alsace
    Secteurs : Public/Administration, Industrie, Santé, Grande distribution, Tertiaire

    - Responsable du développement commercial :
    Fidélisation du portefeuille clients
    Prospection (RDV client, détection d'opportunités, prise de contact téléphonique)

    - Animation et coordination des moyens nécessaires à la recherche, au chiffrage et à la réalisation des affaires sur une activité IT :
    Rédaction et négociation d'offres techniques et commerciales
    Suivi d'affaires et management de ressources opérationnelles
    Gestion du chiffre d'affaires, de la marge

  • Sagem Défense Sécurité - Stagiaire - Division Safran Electronics - Centre d'Excellence de Développement Produit

    2012 - 2012 Détection de panne et réflectométrie pour calculateur de moteur d'hélicoptère :
    Etude de la faisabilité d'un système embarqué de détection de panne dans les lignes de transmission liées à un calculateur moteur.
    Analyse de coupleurs électromagnétiques.
    Analyse de méthodes de réflectométrie.

  • IMEC - Stagiaire - Materials and Components Analysis department

    Hamburg 2011 - 2011 Préparation et étude d’échantillons pour la technique de SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscopy) :
    Etude de wafers de transistors positionnés à 45° (pour améliorer la mobilité dans le canal).
    Préparation d'échantillons par polissage, clivage ou fraisage par faisceau d'ions focalisés (FIB).
    Comparaison de mesures sur les différents échantillons.

Formations

Annuaire des membres :