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Abdelaziz TADERMET

Courbevoie

En résumé

Ingénieur
Systèmes électroniques
Intégration & Validation

EXPERIENCES PROFESSIONNELLES

Depuis Mai 2012 : UMS (Thales & EADS) à PARIS. Ingénieur Mesures et Caractérisation Hyperfréquence.

• Le développement et la mise au point des bancs de tests hyperfréquences (puissance, bruit, [s],.. jusqu’à 110Ghz) pour la mesure des circuits intégrés en développement et en production,
• Analyse des résultats de test en interfaçant avec le responsable du circuit,
• Le support technique aux équipes de production,
• Le développement en langage orienté objet des logiciels de test associés, sous LabVIEW et Delphi, Labwindows / CVI TestStand.

2011 (6 mois) UMS (Thales & EADS) à Orsay. Etude de la fiabilité des capacités MIM sur GaN.
• Montage de banc de caractérisation des capacités et automatisation avec LabVIEW.
• Test et analyse des caractéristiques des capacités MIM.
• Développement d'un banc de vieillissement des composants électroniques bipolaires.
• Etude de la fiabilité des capacités MIM sur GaN.

2010 (5 mois) IRSEEM à Rouen. Développement d’une application sous LabVIEW pour le traitement des
vidéos de la caméra infrarouge FLIR A320.
• Réalisation d’un état de l’art des méthodes de mesure de la température.
• Etude de performances de la caméra FLIR A320.
• Développement d’un logiciel sous LabVIEW afin de traiter les vidéos de la caméra IR.

2009 (3mois) THALES à Rabat, division Air Systems, Etude du protocole de communication SRIO dans le DSP TMS320C6474.
• Etude du DSP TMS320C6474 et de la carte d’évaluation du DSP de Texas Instruments.
• Etude du protocole SRIO.
• Etude de performances du SRIO par des transactions de lecture et écriture entre les cœurs du
DSP.

2009 EMI laboratoire CEMES de ST Microelectronics à Rabat, Conception d’une mémoire dynamique à
double accès avec des transistors MOS.

2008 (3mois) FST d’Errachidia, Elaboration d’un module de traitement du signal sous LabVIEW.

2011 (1mois) Université Paris Sud XI, Modélisation d’un oscillateur 12GHz Sous ADS avec le transistor
PH25NHF de UMS.

2011 (1mois) Université Paris Sud XI, Mise en œuvre d’un processeur embarqué NIOSII de Altera.
FORMATION

2010-2011 Diplôme du master spécialité « Composants et Systèmes électroniques pour les télécoms » à l’université Paris Sud XI. Paris-France.

2009-2010 Diplôme du master spécialité «Circuits Intégrés et Systèmes Embarqués», à l’Ecole Mohammadia d’Ingénieurs (EMI) Rabat-Maroc.

2003- 2004 Baccalauréat Sciences Expérimentales, au Lycée le Prince My Abdellah Errachidia-Maroc.

CONNAISSANCES TECHNIQUES

Electronique & Microélectronique
Conception des circuits intégrés Analogique et numériques.
Conception des circuits imprimés sous OrCAD (Certificat de compétence de la société Artedas)
VHDL, VHDL-AMS. Synthèse sur FPGA Xilinx et Altera
Programmation du DSP TMS320C6474 et DSP TMS320C50.
Les bus CAN, Interface GPIB et PCI-9112.

Télécommunication
Modélisation & simulation d’un récepteur RF sous ADS.
Télécommunication radio mobile, GSM, EDGE, GPRS, UMTS, GPS.
Transmission par fibre optique et multiplexage SDH, PDH.
Les antennes, La compatibilité électromagnétique (CEM).

Programmation :
LabVIEW, Labwindows / CVI TestStand, langage C, Assembleur, MATLAB.
Outils de CAO :
ADS, CADENCE, OrCAD, MICROWIND, DSCH, QUARTUSII, MAX PLUSII,
MODELSIM, VISUAL STUDIO, CC.STUDIO, QNX, ECOS, UML, GRAPHCET.

LANGUES
Arabe lue, parlée, écrite.
Français lue, parlée, écrite.
Anglais lue, parlée, écrite.

Centre d’intérêts
Jeux d’échec, Football, Voyage.

Mes compétences :
ADS
Bus CAN
Cadence
CAN
Communication
Conception
EDGE
Gsm
Labview
Mobile
Modélisation
Pilotage
Programmation
Systèmes Embarqués
VHDL

Entreprises

  • Thales - Ingénieur Mesure Hyperfréquence

    Courbevoie 2012 - maintenant

  • Thales - Stagiaire ingénieur fiabilité

    Courbevoie 2011 - 2011  Tâche effectuée n°1 : Caractérisation des capacités MIM.
    - Montage du banc de caractérisation des capacités MIM.
    - Contrôle et pilotage automatique des instruments avec un programme n
    développé sous LabVIEW.
    - Etude du comportement des capacités MIM, fabriquées par UMS, en fonction
    de la température et la tension de polarisation.
    - Détermination du mécanisme de conduction dans le diélectrique des
    capacités étudiées.

     Tâche effectuée n°2 : développement du banc de vieillissement des capacités.
    - Définition du cahier des charges (instruments et cartes d’acquisition et
    de mesures)
    - Conception et fabrication d’une carte de test de 20 capacités.
    - Montage du banc de vieillissement : lancement des tests et interprétation
    des résultats.
    - Calcul de la fiabilité des capacités testées : l’objectif c’était de
    démontrer si les capacités testées ont la possibilité de fonctionner
    pendant 20 ans sous une température de 125°C et une tension de 50V, avoir
    des excursion de 100 à 150 V.

  • THALES - Stagiaire

    Courbevoie 2009 - 2009

Formations

Pas de formation renseignée

Réseau

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