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Cedrick CHAPPAZ

CROLLES

En résumé

Mes compétences :
LabVIEW
UNIX
Pascal
Microsoft Windows
MathCAD
Linux
HP Hardware
FORTRAN
Elements
C Programming Language
ANSYS

Entreprises

  • STMicroelectronics - Responsable de projet collaboratif & Coordinateur de projets collaboratifs

    2009 - maintenant * Coordinateur de projets collaboratifs (FUI, H2020, ITN)
    * Intrapreneur : porteur du projet TOUCHIT (Roadmap, Benchmark), 7M EUR
  • STMicroelectronics - Ingénieur

    2004 - 2012 caractérisation et fiabilité à STMicroelectronics.
    * Coordinateur de la qualification des projets 3D-IC : définition des modules de
    qualification / adéquation cahier des charges.
    * Coordinateur de la qualification des MEMS-RF en partenariat avec le LETI. ;
    * Responsable des activités fiabilité et caractérisation Back-End (Interconnections +
    packaging).
    * Expert assurant le développement et la qualification du Back-End des technos
    transférées aux fonderies.
    * Dépôt de 5 brevets de structure innovante dédiée à la fiabilité dans les métallisations..
    optimisation électro-mécanique de structures vibrantes
    * Encadrant de 3 thèses : domaine de la fiabilité des MEMS (Switch & MEMS-RF).
    Partenariats avec l'IEMN et l'ENSERG.
  • ST - Ingénieur

    Saint Etienne 2004 - maintenant
  • CNRS - Doctorant

    Paris 1999 - 2003 Thèse en sciences pour l'ingénieur au Laboratoire de Physique et Métrologie des Oscillateurs
    ) dans le cadre du projet PHARAO (CNES) sur la conception de µsources
    laser accordables en longueur d'onde intégrables sur silicium. Elaboration d'un banc de test pour
    caractériser les microsystèmes (instrumentation pilotée en Labview). Prototype qualifié pour une
    horloge atomique.
  • CNES - Toulouse - Stage Ingénieur

    PARIS 1 1998 - 1998 DEA au Centre National d'Etudes Spatiales (CNES) de département d'Optoélectronique et Instrumentation. Etude et caractérisation de capteurs CCD
    embarqués sur satellite (SPOT 5 , HELIOS). Elaboration d'un système de modélisation du
    débordement des charges par suréclairement.

    CURSUS UNIVERSITAIRE
  • Université de CAEN - Instrumentation

    1998 - 1998 technologies du silicium, 1998 : DEA "Mesures, Capteurs, Images" de l'Université de CAEN. Option capteurs.
  • Institut des Sciences de la Matière - Etudiant

    1996 - 1998 et 3ième
    année de l'ENSI de CAEN, ISMRA (Institut des Sciences de la Matière et du
    Rayonnement) . Filière :Microélectronique & Instrumentation (conception de circuits intégrés,

Formations

  • Leti

    Grenoble 2003 - 2004 Post-doctorat

    Conception et développement de micromiroirs dédiés à l'optique
    adaptative. Collaboration avec le LAOG et Tronics Microsystems pour la conception et la
    réalisation. Dépôt de 2 brevets de nouveaux procédés technologiques de réalisation de
    microactionneurs électrostatiques.
  • Institut Supérieur D'Optique D'Orsay

    Paris 2000 - 2001 Développement d'un banc de mesure d'indice de réfraction par réfractométrie dans l'infra-
    en qualité de scientifique du contingent.
  • Université De Caen

    Caen 1992 - 1996 MASTER

    : Maîtrise de Physique (Université de CAEN) .Dominantes: optique moderne, laser, fibre optique,
    spectroscopie, physique des matériaux, physique fondamentale.

Réseau

Annuaire des membres :