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Christophe MEYER

PONTCHARRA

En résumé

20 ans d’expérience dans le semi-conducteur, j'ai évolué dans différents domaines.
Suite à une première expérience en maintenance je me suis tourné vers le domaine du Process durant 10 ans.
Je me suis intéressé dans la spécialisation de l'analyse physique des matériaux, domaine dans lequel je suis depuis 7 ans.

Mes compétences :
Caractérisation des matériaux
Analyse technique
Microsoft Office
Esprit d'équipe

Entreprises

  • Stmicroelectronics - Technicien analyse de défaillances en analyses physiques

    2016 - maintenant analyses de construction
    Inspection sur dual beam (fib/sem), métrologie
    tomographie Xray 3D
    Deprocessing chimique et mécanique

  • STMicroelectronics - Technicien Process Défectivité

    2013 - 2016 Analyse des Défauts et rapport associé (utilisation de microscope SEM et analyse EDX)
    Gestion des priorités production/R&D
    Formation en tutorat des nouveaux collaborateurs
    Métrologie
    Création de recettes sur équipement R&D

  • STMicroelectronics - Technicien de Caractérisation Physique des Matériaux

    2007 - 2011 Préparation de lamelles TEM (Transmission Electron Microscope) avec technique FIB (Focused Ion Beam)
    Analyses EDX
    Analyses de construction d'une brique technologique
    Analyse et rapport SEM (Scanning Electron Microscope)
    Maintenance Préventive et corrective sur équipement R&D

  • STMicroelectronics - Technicien Process

    2002 - 2007 Analyses et reprise des lots suivant des procédures standardisés et non standardisés.
    formation en tutorat des Collaborateurs Process niveaux 2 et 3

  • STMicroelectronics - Opérateur Maintenance niv2

    2000 - 2002 Maintenance Niveau 2 (préventive) sur parc Poly/Nitrure
    Intervention suivant checklist

  • STMicroelectronics - Opérateur de production

    1999 - 2000 lancement des lots sur équipements Etch
    Contrôle particulaires et métrologie

Formations

Réseau

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