Christophe MEYER

En résumé

Entreprises

• Stmicroelectronics - Technicien analyse de défaillances en analyses physiques

  2016 - maintenant analyses de construction
  Inspection sur dual beam (fib/sem), métrologie
  tomographie Xray 3D
  Deprocessing chimique et mécanique

• STMicroelectronics - Technicien Process Défectivité

  2013 - 2016 Analyse des Défauts et rapport associé (utilisation de microscope SEM et analyse EDX)
  Gestion des priorités production/R&D
  Formation en tutorat des nouveaux collaborateurs
  Métrologie
  Création de recettes sur équipement R&D

• STMicroelectronics - Technicien de Caractérisation Physique des Matériaux

  2007 - 2011 Préparation de lamelles TEM (Transmission Electron Microscope) avec technique FIB (Focused Ion Beam)
  Analyses EDX
  Analyses de construction d'une brique technologique
  Analyse et rapport SEM (Scanning Electron Microscope)
  Maintenance Préventive et corrective sur équipement R&D
  

• STMicroelectronics - Technicien Process

  2002 - 2007 Analyses et reprise des lots suivant des procédures standardisés et non standardisés.
  formation en tutorat des Collaborateurs Process niveaux 2 et 3

• STMicroelectronics - Opérateur Maintenance niv2

  2000 - 2002 Maintenance Niveau 2 (préventive) sur parc Poly/Nitrure
  Intervention suivant checklist

• STMicroelectronics - Opérateur de production

  1999 - 2000 lancement des lots sur équipements Etch
  Contrôle particulaires et métrologie

Formations

• Greta Savoie Chambéry

  Chambery 2011 - 2012 BTS A.T.I (Assistance Technique d'ingénieur)
  
  Obtention par V.A.E

• Lycée L'Oiselet

  Bourgoin Jallieu 1996 - 1998 Niv BTS Maintenance Industrielle

• Lycée Vaucanson

  Grenoble 1995 - 1996 Bac F3 (génie électrotechnique)

Réseau

• Guillaume COURGOULET

• Sophie PONSARD