Mes compétences :
Diodes
risk assessment
UNIX
Transistors
Tcl/Tk
Tandem
Statistical Process Control
Microsoft Windows
Entreprises
NXP
- Product Engineer
2016 - maintenant
3SUN
- Ingénieur R&D
2014 - 2015_ Développement et intégration d'une couche, obtenue par PECVD, de SiOx dans des cellules
Tandem
_ Caractérisation physique et électrique des cellules photovoltaïques (EQE, J(V), Ellipsometry)
_ Gestion de la phase préindustrielle de la nouvelle cellule Tandem (panneaux des gaz, essais)
CEA-Grenoble (France)
- Chef de projet
PARIS2009 - 2013_ Développement de Software & Hardware (Atmel µcontrollers) pour acquisition de données
_ Caractérisation électrique de TEG (générateurs thermoélectriques) et assemblage de systèmes
de harvesting
_ Conception e fabrication de systèmes de harvesting piézoélectriques
_ Conception e réalisation de démonstrateurs de harvesters pour le photovoltaïque
Chef de projet « photovoltaïque à film mince (CIGS)»
_ Mise au point de couches tampon sans cadmium, par voie PVD
_ Interconnexions monolithiques sur modules PV en couches minces
STMicrolectronics
- Ingénieur de conception
2008 - 2009_ Etude préliminaire (transistor level) de la taille des portes logiques en technologie C32
_ Implémentation d'un nouveau « Test Code Register » dans les macro-cells C32
_ Validation « Full schematic » des principales fonctions d'une macro-cell (Read, Write, Refresh)
STMicroelectronics
- RF Model Engineer
2004 - 2008Caractérisation et modélisation en Radio Fréquences.
et modélisation SPICE de Varactors MOS et Diode.
_ Rédaction d'un DOE spécifications de layout pour Varactors MOS et Diode en technologie
CMOS045.
_ Construction de modèles paramétrés ELDO pour Varactors MOS et Diode en technologie
CMOS065.
_ Caractérisation et modélisation HF d'un Varactor « hautement dopé » en technologie H9SiGe.
_ Caractérisation et modélisation HF de diodes ESD, dans les technologies H9SOI & C065.
STMicroelectronics
- Ingénieur de procèdes
2000 - 2004_ Mise à jour des recettes de fabrication sur les fours RTP.
_ Optimisation des « Lamp Correction Tables » à la suite d'interventions de maintenance sur
RTP.
_ Suivi SPC (Statistical Process Control) des paramètres clé (pour équipements et produits).
_ Rédaction du document FMEA (Failure Mode Effects Analysis) pour les fours RTP.
STMicroelectronics
- Ingénieur d'équipement
1998 - 2000: Ingénieur d'équipement, area gravures humides.
_ Contribution à l'augmentation du MTBF des équipements
_ Amélioration de la fiabilité des équipements qui avaient été soumis à un retrofit de la sonde de
température.
_ Support de production, en assurant le rendement des équipements SMS/Akrion et FSI Mercury.
STMicroelectronics
- Ingénieur d'équipement
1995 - 1998: Ingénieur d'équipement, area traitements thermiques.
_ Contribution à la réduction du « Down Time » et du « Mean Time to Repair » des fours
verticaux.
_ Ecriture de procédures de maintenance pour les fours atmosphériques et les fours LPCVD
(SVG, TEL).
_ Gestion de la formation des opérateurs en équipe de nuit.
1993 - 1995: Ingénieur d'équipement, area traitements thermiques.
_ Mission de deux ans sur le site de Crolles (France) pour assurer le transfert des technologies de
fabrication des puces (sur tranches de 8 pouces), vers la nouvelle usine M5 de Catane.
_ D.E.S.T en Electronique: Conservatoire National des Arts et Métiers Paris (France)
_ D.P.C.T en Métallurgie: Conservatoire National des Arts et Métiers Paris (France)