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Eric DERNIAUX

Paris

En résumé

Mes compétences :
Couches minces
matériaux
Métallurgie
Nucléaire
Recherche

Entreprises

  • EDF - Chargé d'affaires

    Paris 2012 - maintenant Expertises métallurgiques de pièces issues de sites de production
  • EDF - Pilote d'activités

    Paris 2008 - 2012 Surveillance des END par courants de Foucault dans les tubes des générateurs de vapeur
  • CEA Saclay - Ingénieur de recherche

    Gif-sur-Yvette 2007 - 2008
  • Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales (ONERA) - Doctorant

    2003 - 2006 Thèse de doctorat à l'Office National d'Etudes et de Recherches Aérospatiales (ONERA), Châtillon (92), dans l'Unité Capteurs et Microtechnologie du Département Mesures Physiques
    Sujet : "Etude de structures NiCoCrAlY / Al2O3 / TiOx / Pt / AlN déposées par pulvérisation cathodique sur superalliage base Ni pour capteurs de pression haute température"

    - Gestion du projet de développement des capteurs de pression à haute température
    - Etude de l'influence des propriétés physico-chimiques de substrats en alumine (Al2O3) sur l'adhérence et l'orientation cristallographique de dépôts de platine (Pt)
    - Caractérisation physico-chimique de dépôts NiCoCrAlY / Al2O3 sur superalliage base nickel : étude de changements de phase et de microstructure lors de traitements thermiques
    - Mise au point d'une couche d'accrochage en TiOx afin d'améliorer l'adhérence du platine sur le dépôt isolant en alumine
    - Etude de l'influence des paramètres d'élaboration sur la texture cristallographique {0001}, la morphologie, la composition chimique et les contraintes résiduelles de couches d'AlN
    - Amélioration de la tenue mécanique de la structure multicouche de 20°C à 800°C
    - Caractérisation des dépôts par différentes techniques : DRX (théta/2théta, rasant, figure de pôles), MEB, EDS, XPS, EBSD, AFM, ellipsométrie, test d'adhérence
  • Philips - Stagiaire

    Suresnes 2003 - 2003 Stage de fin d’études d’école d’ingénieurs chez Philips au sein de l’Alliance Crolles 2 avec Motorola et STMicroelectronics près de Grenoble (38) sur "l'analyse des empreintes laissées par les machines de process et de métrologie sur l'envers des wafers"

    - Responsable du projet d'étude visant à diminuer les empreintes sur l'envers des wafers : réalisation d'expériences sur plaques tests et résolution de problèmes sur lots de production en collaboration avec les fournisseurs (création de modes opératoires et mise en place d'actions correctives)
    - Caractérisation des empreintes par différentes techniques : MEB, EDS, fluorescence X, microscope optique, appareil de détection automatique de défauts
  • Université de Birmingham - Stagiaire

    2002 - 2002 Stage de seconde année d'école d'ingénieurs au laboratoire de métallurgie de l’Université de Birmingham sur "la caractérisation de YBa2Cu3O7- déposé par ablation laser sur SrTiO3 dans le cadre d’injection de spins dans La0.7Ca0.3MnO3"

    - Utilisation de différentes techniques de caractérisation des matériaux : MET, EDS, AFM, DRX
  • PSA Peugeot Citroen - Stagiaire

    Rueil Malmaison 2000 - 2000 Stage technicien chez PSA Peugeot Citroën, Usine de Rennes La Janais (35), au laboratoire de métallurgie sur "les mesures de répétabilité du comptage automatique des polluants extraits des organes hydrauliques"

    - Création de gammes d'extraction
    - Détermination des incertitudes de mesure liées au comptage automatique des polluants
    - Amélioration du plan de surveillance "propreté hydraulique"

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