Rousset2011 - 20171 - Gerer l'equipe de Fiabilité
2 – Gérer la planification/réalisation des tests de fiabilité dans le cadre des qualifications de technologies, boitiers ou produits,
3 – Gérer la réalisation des tests de fiabilité pour maintenir les qualifications des technologies ou boitiers,
4 – Diriger les analyses de défaillances des rejets de fiabilité,
5 – Maintenir les spécifications des tests de fiabilité en conformité avec les spécifications ATMEL et l'état de l'art,
6 – Améliorer l'efficacité des tests de fiabilité (réduction de coûts, réduction de temps de cycle).
Averna Technologie
- Product and Test Engineering Developement
2009 - 2011Responsible produit (et test) de carte de telecommunication sur fibre optique (40GHz et 100GHz)
-Developpement des stations de test
-Deploiement en production et support haut niveau
-Amélioration des rendements (pareto-spc...)
-Analyse de defaillance
Altran
- Business Dev
Vélizy-Villacoublay2008 - 2008
Inside Contacless
- Analog Designer
2007 - 2007Conception d’un RTC Oscillateur a Quartz low power .
• Design et simulation de source de tension subthreshold
• Analyse d’impédance complexe de l’Oscillateur 32 768 Hz
• Automatisation des mesures par des Script Perl (Ocean)
TI Texas Instrument
- System Validation Engineer
2007 - 2008Validation au niveau système de circuit de Power Management (silicium)
• Programmation en C (code embarqué)
• Debug temp réel de systeme Complexe (IAR)
2006 - 2007Caracterisation d’IP Analogique de circuit microcontrôleur (silicium)
Clock tree, temperature sensor, Bandgap…
Programmation (assembleur & C)
NXP
- Lab - Test Bench Engineer
2005 - 2006Validation & Vérification de circuit Numérique & Analogique Bleutooth et GSM (silicium)
• Automatisation des mesures sur banc de test
• Debug temp réel, script de programmation en C
ATMEL
- Memory circuit Designer
Rousset2003 - 2005Conception d’une mémoire SRAM.
Mémoire spécifique pour les produits capteurs d’images CMOS
• Design et simulation de circuits mixtes constituant la mémoire
• Simulation full block
• Réalisation de l’algorithme de test (en vue de la conception du BIST)
Etude de la structure des mémoires EEPROM et conception d’une pompe de charges,
• Etude de l’art
• Analyse parasitique
• Modélisation (physique et mathématique) d’une pompe de charge