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Maxime FONTAINE

la chapelle sur erdre

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En résumé

Mes compétences :
Banc de tests
Conception
Electronique
Électronique analogique
Instrumentation
Instrumentation optique
Microélectronique
Optique
Recherche
Simulations
Simulations numériques
traitement de signal

Entreprises

  • Apex Technologies - Ingénieur R&D

    la chapelle sur erdre 2014 - maintenant Conception, Développement et Industrialisation d'équipements de mesure pour les technologies à fibre optique.

  • Airinov - Ingénieur Validation

    2014 - 2014

  • ALTER - iXBlue - Industrialisation - Moyens d'Essais

    2013 - 2014 Mise en place d'un Contrôle d'Entrée Optique sur les Gyromètres à Fibre Optique

  • ALTEN - SAGEM DS - Ingénieur Moyens d'Essais

    2012 - 2013 Contexte Général : Conception et Réalisation de bancs d'essais pour avionique
    Sujet du projet : Ce projet a porté sur l'étude, la conception et la réalisation de plusieurs bancs d'essais pour l'industrialisation de différents systèmes destinés à l'aéronautique (Vanne de Flux, Calculateurs Moteur, Systèmes de Sécurité du train d'atterrissage)

    Pour chacun de ces projets, la démarche est restée la même. J'ai ainsi effectué les tâches suivantes :

    - Rédaction de Spécifications Technique de Besoin et de Cahiers des Charges
    - Consultation pour Appel d'Offre
    - Comparaison de Réponses à Appel d'Offre
    - Audit de Sous-Traitants
    - Expertise technique sur le test des produits
    - Création de Dossier de Définition
    - Réalisation de Bancs d'Essais

    En parallèle à ces différentes tâches, j'ai effectué des tâches de gestion de projet avec :

    - Création de Planning
    - Etude de risques et rédaction de plans d'actions

  • Institut Langevin, ESPCI ParisTech - Chercheur Optronique

    2010 - 2011 Contexte Général : Projet Trilob - Développement d'un Laser appliqué aux télécommunications
    Sujet du projet : Dans le cadre de cette étude regroupant plusieurs membres (3S Photonics, Orange, Egide, Alcatel – Thales III - V Lab, Telecom ParisTech et ESPCI), mon travail a consisté à mettre en place un modèle de simulation thermique du boîtier Laser basé sur le logiciel Comsol MultiPhysics et reposant sur des mesures de températures non-destructives (Thermo-réflectance et Imagerie IR) et sur des mesures de consommations électriques.

    - Rédaction des spécifications thermiques du Laser
    - Choix des systèmes de caractérisation en rapport avec les compétences du Laboratoire
    - Calibration des systèmes de caractérisation
    - Conception et mise en place du banc de mesures
    - Mesures électrique et thermique d'un module à effet Peltier
    - Développement d'un modèle électro-thermique du Laser sous Comsol MultiPhysics
    - Procédure de Validation du modèle électro-thermique
    - Transfert de Technologies du modèle vers 3S Photonics

  • GPM - Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen - Doctorant

    2006 - 2010 Préparation d'une thèse portant sur la réalisation d'un système optique permettant la mesure de la température d'un transistor RF de puissance en mode pulsé. Recherche s'inscrivant dans le projet Audace du pôle Mov'eo en collaboration avec Thales Air System.

    La méthode visée durant ma thèse porte sur la variation de la phase d'une onde optique. Cette variation, due à l'indice de réfraction des matériaux constituant le composant, permet de quantifier la température in-situ du transistor.

    Mais, l'indice de réfraction n'est pas le seul paramètre évoluant avec la température. En effet, la dilatation est un élément modifiant le chemin emprunté par la lumière et donc modifiant la phase de l'onde optique. Il est donc nécessaire de dé-corréler ces deux paramètres. Pour cela, plusieurs méthodes ont été investiguées.

    La première a consisté à quantifier de manière fine la variation de l'indice de réfraction avec la température. Dans ce but, un ellipsomètre a été réalisé. Celui-ci a permis une caractérisation de l'évolution de l'indice de réfraction avec la température avec une précision plus accrue qui ce qui pouvait alors être vu dans la littérature. Cette méthode a permis une première correspondance entre l'indice de réfraction et donc la phase de l'onde optique se propageant dans le composant et sa température.

    La seconde méthode permettant de dé-corréler ces deux paramètres que sont l'indice de réfraction et la dilatation a été de quantifier simultanément ces deux grandeurs. Pour cela, j'ai réalisé un interféromètre optique. Celui-ci permet, par l'utilisation d'un système de détection particulier la mesure du coefficient de réflexion (donc de l'indice de réfraction) et de la dilatation du matériau en une seule mesure.

    Grâce à ces travaux, il est maintenant possible de dé-corréler les apports de la température et de la dilatation sur la phase d'un faisceau optique se propageant dans un composant micro-électronique.

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