Diffraction des rayons X
* Analyse par diffraction des rayons X sur poudre en mode REFLEXION d’échantillons solides d’origine variée (phosphate, Ciment, rejets miniers, Produits pharmaceutiques, amiante, produits chimiques et produits de synthèse...).
* Prélèvement et échantillonnage dans le cas des échantillons dangereux (amiante)
* Traitement des diagrammes de diffraction et extraction des données.
* Etude quantitative par la méthode de Rietveld.
* Suivie régulier de l’appareillage, détection, localisation et dépannage des pannes
Microscopie électronique à balayage
* Imagerie et étude da la topographie géométrique et chimique.
* Analyse chimique locale des échantillons solides.
* Réalisation de la cartographie X.
* Observation de matrices biologiques et phénomènes physique (défaut de fabrication, hydratation, déshydratation, fusion, fissuration…).
* Application d’un programme d’étalonnage et développement des aspects de maintenance du microscope électronique à balayage.
* Assister les ingénieurs et technicien dans leurs projets de fin d’étude
Pas de formation renseignée