Ayant reçu une formation de physicien de base, je me suis orienté très tôt, par goût personnel, vers l'optique et ses applications. J'ai été depuis 32 ans, et suis encore responsable de projets relatifs au développement de nouveaux instruments pour la métrologie optique non destructive.
Mes compétences se rapportent donc aux calculs et à la modélisation en optique et physique des matériaux, mais aussi au calcul de structures mécaniques. Mes outils sont Excel, MathCad... pour les calculs de base, Apilux pour le "ray-tracing", AutoCad, Mechanical Desktop, Inventor pour les dessins mécaniques et Comsol pour l'analyse des contraintes. Afin d'évaluer, de valider et/ou de présenter les fonctionnalités des instruments en développement, je crée mes propres interfaces informatiques (IHM), actuellement sous environnement .Net du Visual Studio 2005 /2008 de Microsoft, associé aux fonctionnalités de la bibliothèque du "Measurement Studio" de National Instruments (proche de l'environnement LabView).
Pour mener à bien mes missions, je suis entouré d'équipes assez souvent restreintes (4 à 12 personnes) composées de techniciens et d'ingénieurs très efficaces dans leur domaine de compétence.
Depuis octobre 2008 à SOPRALAB, je m'occupe plus particulièrement de l'évolution des ellipso-porosimètres de la société, instruments dédiés à la métrologie des matériaux poreux mis en œuvre dans l'industrie des semi-conducteurs et du photovoltaïque.
Mes compétences :
ellipsométrie
matériaux
Optique
Photovoltaïque
Physique
physique des materiaux