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Patrick LAMONTAGNE

GRENOBLE

En résumé

Mes compétences :
Caractérisation électrique
Matériaux
MathCAD
Fiabilité

Entreprises

  • STMicroelectronics - Ingénieur Fiabilité

    2011 - maintenant Prise en charge des mécanismes d e défaillances dans les interconnexions de la microélectronique:
    - Elaboration et mise en oeuvre (caractérisation électrique, tests de vieillissement accélérés) dans le contexte de qualification de procédés et de technologie- Expertise et support à la production et développement de nouvelles intégrations
    - Suivi de projet
    - Définition et design de structures de test normalisées ou répondant à des problématiques nouvelles
    - Responsable de bancs de vieillissement accélérés

  • STMicroelectronics - Stage de fin

    2007 - 2007 : Stage de fin d'étude à STMicroelectronics à Crolles (38)
    Modélisation des capacités parasites dans les transistors MOS avancés

  • STMicroelectronics - Ingénieur Modélisation

    2007 - 2007 Modélisation des effets parasites dans les transistors CMOS avancés
    - Caractérisation des transistors CMOS
    - Calibration du modèle et optimisation des paramètres

  • STMicroelectronics - Ingénieur R&D Fiabilité

    2007 - 2010 Etudes des mécanismes de défaillances dans les interconnexions avancées de la microélectronique :
    - Modélisation de la dégradation des interconnexions en cuivre par phénomène d'électromigration
    - Design de structure de tests tirant partie des topologies des circuits
    - Définitions de règles de design de circuit tirant profit des topologies
    - Promotions des travaux de recherche (conférence, workshop scientifique)

  • Alcatel-Thales III-V Lab - Stage de Quatrième année & ingénieur

    2006 - 2006 : Stage de Quatrième année d'école d'ingénieur au laboratoire
    Etude de vieillissement de puces intégrant un laser et un modulateur

  • Laboratoire Alcatel-Thalès III-V Lab - Ingénieur Caractérisation optoélectronique

    2006 - 2006 - Mise en place d'un banc de vieillissement pour la laser
    - Test de vieillissement et caractérisation optoélectronique de composants

  • CNRS - Stage de technicien supérieur

    Paris 2003 - 2004 : Stage de technicien supérieur au Laboratoire de Photonique et de Nanostructures à Marcoussis (91)
    Etude des caractéristiques d'une sonde ionique ,

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