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Philippe CARL

Paris

En résumé

Ayant plus de 10 ans d'expérience dans le domaine de la microscopie optique et la microscopie à force atomique je travaille actuellement dans un poste dans le domaine du développement de logiciels scientifiques.
Mes compétences sont la microscopie à force atomique en mode image et spectroscopie de force, la microscopie optique et à fluorescence (EPI, FRET, TIRF, FRAP, illumination Structurée, spinning disk, holographique), le développement de logiciels d'analyse en analyse d'images ainsi qu'en spectroscopie de force.

Mes compétences :
AFM
Microscopie optique

Entreprises

  • CNRS - Ingénieur de recherche

    Paris 2012 - maintenant Développement d'outils d'analyse d'images et de données
    Responsable d'une plate forme d'imagerie optique et AFM

  • Punias - Création d'une activité d'auto-entreprenneur

    2009 - maintenant Dévelopment, marketing and commercialisation d'un logiciel d'analyse en spectroscopie de force.

  • ScienTec - Ingénieur Applications, Ventes

    2008 - 2011 Promotion et vente des produits distribués par ScienTec dans le domaine de la microscopie optique et à force atomique, marketing produits.

  • Veeco Instruments GmbH (Mannheim, Allemagne) - Life Science Project Engineer

    2007 - 2007 Développement d’extensions pour des applications dans le domaine des sciences de la vie, marketing produit, interaction avec des clients lors de démonstrations et conférences.

  • Institut für Physiologie II - Universitätstklinikum (Münster, Allemagne) - Post-doc

    2006 - 2007 Étude de l’influence de la protéine CFTR (responsable de la mucoviscidose) sur les propriétés mécaniques de cellules, détermination de la position sub-pixellaire de Qdots.

  • Max Planck Institut für Kolloid und Grenzflächenforschung (Golm, Allemagne) - Post-doc

    2004 - 2006 Étude mécanique d’émulsions de Pickering à l’aide de l’AFM et du RICM, développement de logiciels d’analyse d’images en combinant ImageJ et une extension de Punias.

  • Hahn-Meitner Institut GmbH (Berlin, Allemagne) - Post-doc

    2003 - 2004 Simulation d’un microscope à force atomique (AFM) équipé d’une sonde Kelvin appliqué a des semi conducteurs en résolvant l’équation de Poisson en 3D avec la méthode des éléments finis et une simulation basée sur une somme de capacités parallèles.

  • Université de Pennsylvanie (Philadelphie, USA) - Post-doc

    1999 - 2003 Caractérisation micro-mécanique de protéines à l'aide de la microscopie à force atomique (AFM).
    Imagerie de protéines et caractérisation de leur mécanisme de dépliement / repliement à l’aide de la microscopie à force atomique (AFM), développement d’une cellule Peletier pour AFM et d’un logiciel semi-automatique pour analyser les courbes de dépliement, labellisation fluorescente, électrophorèse et
    dialyse de protéines, simulations de Monte Carlo du dépliement de protéines.

  • Institut National Polytechnique de Lorraine (Nancy, France) - Thèsard

    1996 - 1999 Étude expérimentale et modélisation de la cinétique d'adhésion irréversible de particules colloïdales.
    Microscopie optique, analyse d’images, développement d’une cellule à sédimentation et d’un algorithme permettant d’analyser la cinétique de sédimentation, simulation du processus d’adsorption.

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