Paris
EXPERIENCE PROFESSIONNELLE
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Depuis mai 2003 : Directeur R&D applications à ELDIM en charge du développement des nouveaux produits et des applications clients (métrologie des écrans et autres). En charge de la gestion des contrats de recherche Français ou Européens.
janvier 1995-avril 2003: Directeur Recherche & Développement à SOPRA (Société de Production et de Recherche Appliquée, Bois Colombes). Responsable du service de R&D de l’entreprise (~ 20 personnes) chargé du développement des nouveaux produits essentiellement en caractérisation non destructive (Ellipsométrie spectroscopique in-situ, infrarouge, réflectométrie, scatterométrie, réflectivité de rayons X, réflectométrie euv, imagerie, capteurs, logiciels scientifiques…). Chargé de la gestion des contrats de recherche Français ou Européens. Coordinateur du projet national PREUVE sur la lithographie EUV.
Février 1993-décembre 1994: Ingénieur de recherche au CNRS (contrat à durée déterminée). Mission: Transfert des activités de recherche concernant l'élaboration de multicouches à l'échelle nanométrique, des Laboratoires d'Electronique Philips à l'Université d'Evry.
Octobre 1985-février 1993: Aux Laboratoires d'Electronique Philips, responsable de plusieurs projets de recherche concernant le dépôt et la caractérisation de couches minces:
o Semiconducteurs III-V :Postencapsulation de circuits intégrés GaAs, fabrication de transistors MISFETs GaInAs (projet ESPRIT), gravure d'InP par plasmas multipolaires micro-ondes.
o Multicouches nanométriques : optiques X pour spectromètres de fluorescence, optiques neutroniques pour instrumentation scientifique, matériaux magnétiques doux pour têtes de lecture, matériaux magnétorésistifs pour capteurs de champ magnétique, milieux d'enregistrement magnéto-optique, revêtements multicouches à grande dureté.
Août 1984-septembre 1985: Service Scientifique à la DGA Montrouge. Simulation d'effets mécaniques et thermiques à trois dimensions.
Juin 1982-juin 1984: Préparation de thèse au Laboratoire de Chimie Physique du Solide de l'Ecole Centrale de Paris. Etude des défauts ponctuels dans les composés au plomb en relation avec leur activité électrochimique dans les accumulateurs.
COMPETENCES
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Compétences Scientifiques et Techniques:
Métrologie en microélectronique
Méthodes de caractérisation optiques (ellipsométrie, spectrométrie...)
Réflectométrie, diffraction et spectrométrie de fluorescence X
Elaboration et caractérisation de miroirs à rayons x et à neutrons
Physico-chimie des matériaux, des surfaces et des interfaces
Technologie du vide, de l'ultravide et des plasmas
Physique des semi-conducteurs et des dispositifs électroniques
Elaboration et caractérisation de matériaux nouveaux. pour l'optique, le magnétisme, la micro-électronique ou la tribologie
Encadrement
Encadrement d’une division de recherche & développement (5 docteurs + 10 Ingénieurs + techniciens, thésards, et stagiaires )
Directeur de cinq thèses et responsable de nombreux stagiaires (D.E.A., Ecoles d'Ingénieurs)
Coordinateur d’un programme Français de recherche et responsable de plusieurs contrats Européens
Informatique et Electronique:
Maîtrise de plusieurs langages de programmation en environnement WINDOWS
Maîtrise de la programmation orienté objets
Automatisation d'expériences sur PC
Simulation et exploitation de mesures physiques
Acquisition de données en temps réel
Outils de bureautique classique sur PC
Vie Scientifique
Expert auprés de la communauté Européenne dans diverses sessions d’examen de projets FP7
Nombreuses collaborations scientifiques avec des organismes publics et privés en France et à l'étranger
Participation à environ 200 conférences nationales et internationales dont plusieurs sur invitation
Expérience d’enseignement (cours de DESS) et de formation (formation SFV, Ecole d’hiver et d’été CNRS)
280 publications scientifiques et 12 brevets)
