Mes compétences :
Caractérisation des matéraux
Microscopie optique
MEB
DRX
Entreprises
CEA Grenoble/LETI
- Ingénieur caractérisation
2014 - maintenantJe suis en charge de la réalisation de caractérisations (analyses) sur des plaques 200 et 300mm en microélectronique en horaires de nuit.
Les analyses réalisées sont de natures différentes selon l'appareil utilisé:
- Microscope à Force Atomique (AFM) pour de la mesure précise de rugosité
- Diffraction des Rayons X (XRD) pour une analyse cristallographique
- Réflectométrie en rayons X (XRR) pour de la mesure d'épaisseur de couche
- Ellipsométrie pour: la mesure précise d'épaisseurs (mono/multicouches)
la caractérisation de surfaces/interfaces
l'obtention de propriétés optiques (indices n et k, gradient, anisotropie)
CEA grenoble
- Ingénieur Matériaux
2010 - maintenantCaractérisation post-test (MEB-EDS, DRX) de matériaux métalliques, céramiques et de verres.
Effectué par le biais de l'alternance
Snecma Propulsion Solide
- Technicien supérieur en caractérisation
Courcouronnes2008 - 2010Transfert et validation d'un banc de mesure de densité d'aiguilletage sur un nouvel équipement.
Caractérisation post-mortem (microscopie optique, microscopie confocale, traitement d'image, MEB)
