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Stéphane U.

GIF-SUR-YVETTE

En résumé

Spécialisé en caractérisation des matériaux, analyse des surfaces et interfaces. Analyse TOF-SIMS, SIMS, XPS, MEB-EDX, ellipsométrie.
J'ai travaillé dans des laboratoires de recherche universitaire en nanotechnologies et des laboratoires privés dans le domaine de la microélectronique (Probion, Alchimer).

Egalement attiré par les études et développement en industrie, j'ai travaillé en développement méthodes de mesures et bancs de test (Nuvonyx optronique, Technocentre Renault). Logiciels Labview, Visual Basic.

Mes compétences :
Bancs de test
Basic
EDX
Labview
matériaux
MEB
Microélectronique
Microsoft Visual Basic
optronique
Test
VBA
XPS

Entreprises

  • Probion - Analyse caractérisation matériaux

    2011 - maintenant Mesures des profils des dopages et des contaminants de matériaux semi-conducteur par SIMS

  • Alchimer - Analyse couches minces microélectronique

    Massy 2008 - maintenant Analyses physico-chimiques de couches minces pour la microélectronique. Moyens: TOF-SIMS, MEB-EDX, ellipsomètre, profilomètre, spectro IR.

  • Technocentre Renault - Etudes et développement

    2007 - 2007 Développement de méthodes physiques de caractérisation des ouvrants. Bancs de test. Programmation Visual Basic, Labview.

  • Nuvonyx, optronique - Process

    2005 - 2006 Développement de bancs de test, de baies de déverminage et de vieillissement pour des diodes laser. programmation Labview.

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