Actuellement post-doctorant sur la ligne de lumière BM2 à l'ESRF (European Synchrotron Radiation Facility), mon sujet de recherche est d'analyser des couches ultraminces (sub 10micron) des silicures de nickel sur SiGe/Si pour des applications FDSOI, en utilisant une combinaison des méthodes de caractérisation structurale (rayons X, TEM, SEM). Ce sujet de recherche est en colaboration avec CEA-LETI sur projet national Equipex.
Mes compétences :
Croissance des nanostructures III-V et du Si
Caractérisation de surface par AFM
Analyse des nanostructures par rayons X
Caractérisation des matériaux
Photonique
Planification
Rigueur
AFM Records
Diffractométrie de rayons X