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Thomas TILLOCHER

ORLÉANS

En résumé

Mes compétences :
Conception
Epitaxie
Gravure
Plasma
Recherche
Traitement de surfaces

Entreprises

  • GEMaC (Groupe d'Etude de la Matière Condensée - CNRS/UVSQ)) - Ingénieur de recherche

    2009 - maintenant - Homoépitaxie et dopage de type n (incorporation de phosphore) du diamant (orientation 100) par MPCVD(Microwave Plasma Chemical Vapor Deposition).
    - Caractérisation des échantillons de labos partenaires : Couches de diamant dopés p (Bore) et substrats de diamant dopés p et n par implantation ionique.

    Techniques de caractérisation utilisées :
    - MEB,
    - Spectroscopie de Cathodoluminescence,
    - SIMS,
    - Diffraction des rayons X (mesure de désorientation)
    - Effet Hall Haute Température
  • MHS Equipment - Ingénieur R&D / Chef de projet

    2008 - 2008 Conception de systèmes de dépôt sous vide (Evaporation, MBE, Pulvérisation magnétron)

    Gestion de projets : coordination de l’équipe projet et des différentes étapes de la réalisation (étude, approvisionnement, montage) dans le respect du cahier des charges et des délais

    Support commercial
  • Oxford Instruments Plasma Technology - Bristol (UK) - Applications Engineer

    2006 - 2007 Développement de procédés plasmas (principalement en gravure) basse pression sur les réacteurs de la gamme d'Oxford Instruments.

    Mise en place des procédés chez les clients :

    - Gravure isotrope : Si, SiN, SiO2, ITO, résines, Cr, Al, Ti.
    - Gravure anisotrope : GaN, Si, SiN, SiO2, polymère, LiNbO3.
    Analyse de défaillance (gravure isotrope de la couche de polyimide et de la couche de passivation, gravure anisotrope des couches diélectriques intermétalliques)
    - PECVD : SiO2, DLC


    Analyses :
    - MEB
    - Profilométrie (Dektak)
    - Nanospec ( mesure d'épaisseur de couches)
    - Ellipsométrie (mesure d'uniformités)
    - Mesure de contraintes

    Démonstrations sur site pour les clients.
  • GREMI UMR 6606 CNRS/Université d'Orléans - Doctorant

    2003 - 2006 Thèse au laboratoire GREMI sous la direction de Pr. Pierre Ranson et de Dr Rémi Dussart :

    Gravure profonde du silicium par le procédé cryogénique ' Application à la réalisation de trous traversants ' Optimisation du procédé, mécanismes réactionnels en phase gazeuse et interaction plasma/silicium.

    Gravure réalisés sur réacteur industriel Alcatel 601E.
    Analyses :
    - Sonde de Langmuir
    - Spectroscopie d'émission optique, actinométrie
    - Spectrométrie de masse en phase gazeuse
    - MEB

    1 brevet, 8 publications et 24 communications internationales et nationales.

    Enseignements à Polytech'Orléans (environ 100h) : travaux dirigés, travaux pratiques, encadrement de projets et de stage au sein de l'équipe de recherche.

Formations

  • Université Orléans

    Orleans 2003 - 2006 Doctorat en physique des plasmas

    These effectue au GREMI sous la direction de P. Ranson et R. Dussart

    Titre de la these : Gravure profonde du silicium par le procede cryogenique - Application a la gravure de trous traversants - Optimisation du procede, mecanismes reactionnels en phase gazeuse et interaction plasma/silicium
  • Université Orléans

    Orleans 2002 - 2003 DEA Fluides, Atmospheres, Plasmas
  • Université Orléans

    Orleans 2000 - 2003 Ingenieur optique, laser, traitements plasmas
  • Lycée Carnot

    Dijon 1998 - 2000 CPGE PCSI en 98/99 et PC en 99/00

Réseau

Annuaire des membres :