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Xavier BELREDON

AIX EN PROVENCE

En résumé

Product Manager in charge of yield enhancement, industrialization & Fab Sustaining on 90 to 40nm Secure e-Flash devices

Mes compétences :
Yield management
Production

Entreprises

  • STMicroelectronics - Advanced Secure Micro Product Manager

    2014 - maintenant Product industrialization
    Test production follwup
    Fab sustaining
    Qualification support

  • STMicroelectronics - Ingénieur Produit Microcontrolleur Sécurisé

    2012 - 2014

  • STMicroelectronics SAS - Ingénieur Smart Card Device

    2008 - 2012

  • STMicroelectronics - Ingénieur Device et Chargé du transfert de technologie 90nm

    2007 - 2007 Mission de 6 mois au sein de l'Alliance Crolles2 en Device logique 90nm
    En charge du transfert de technologie vers les sites STMicroelectronics d'Agrate et Rousset

  • STMicroelectronics SAS - Ingénieur Smart Card Device et Chargé du transfert de technologie 90nm

    2007 - 2008

  • STMicroelectronics - Ingenieur Fiabilité et Modélisation

    2004 - 2007 Ingenieur Fiabilité et Modélisation TCAD à STMicroelectronics (Crolles, 38)

    Mission: Support par la simulation TCAD aux équipes chargées du développement des nouvelles technologies tout au long de la chaîne de conception (R&D jusqu'à la pré-industrialisation).

    Domaine d'expertise:
    - Imageurs CMOS
    - Latchup

    Principales Activités / Compétences :
    - Procédés de fabrication: Diffusion, Implantation, etc...
    - Comportement électrique: Collection de charges dans les pixels, MOS, Latchup, etc...
    - Optique: géométrique (Ray Tracing), diffraction dans les pixels (simulation électromagnétique FDTD)

    http://www.st.com
    http://www.synopsys.com/products/tcad/tcad.html

  • ONERA - Ingénieur de Recherche - Thèse SUPAERO

    Palaiseau 2000 - 2003 Office National d’Etudes et de Recherches Aérospatiales, ONERA, Département Environnement Spatial, DESP, Toulouse.

    Le but du projet a été de concevoir les premiers capteurs CMOS à pixels actifs (APS) dédiés à l’identification des particules ionisantes présentes dans l’environnement spatial.
    Leur dimensionnement a été effectué grâce :

    - à la simulation physique des effets transitoires dans l’électronique induits par des ions lourds, et des effets des pièges sur la charge collectée, à l’aide de ISE-TCAD,

    - à la caractérisation de plusieurs capteurs APS sous irradiations,

    - au développement de deux bancs d'acquisition et de caractérisation, un autonome et portable piloté par un FPGA Xilinx pour les expérimentations sur accélérateur de particules et un autre piloté par un testeur de composants numériques.

  • Centre d’Etudes Spatiales des Rayonnements, CESR, Toulouse - Stage

    1998 - 1998 Etude des composantes de l'environnement spatial et mise en place d'une méthode de calibration de l’instrument FREGATE (FREnch GAmma deTEctor) embarqué sur le satellite HETE-2 lancé en 2000.

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