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Alain LOPEZ

PARIS

En résumé

De cursus universitaire et doctorale, ingénieur en Conception Test et Caractérisation, je me suis forgé une expérience dans les métiers du test alliant : intégrité du signal, conception de cellules de test intégrées et caractérisation de cellules complexes.

J’ai œuvré pour de grandes compagnies multinationales telles que Philips Research Eindhoven au Pays-Bas, qui m’a permis d’aborder un programme de recherche au sein d’une équipe anglophone et de concevoir une cellule de diagnostique permettant d’identifier les circuits défaillants au niveau des cartes électroniques. Cette expérience fut riche d’apprentissage linguistiquement et m'a permis de prendre en charge d’un projet industriel d’envergure européenne.

Pour ST Microélectronics à Crolles, j’ai collaboré avec des designers français, marocain et indien dans le but de caractériser et de valider la maturité de plusieurs familles de cellules : cellules entrées sorties (I/O DDR2), cellules d’asservissement de retard de type DLL. Cela m’a permis d’acquis de la rigueur tant dans la prise de mesures, que dans la rédaction de documentation technique afin d'exploiter au mieux les résultats.

Pour Electronique Marin à Neuchâtel en Suisse, filiale du Swatch Group, j’ai caractérisé des cellules mémoires de types EEPROM et Flash embarquées dans des circuits complexes composés d’un microcontrôleur et d’un transpondeur suivant les normes draconiennes dictées par l’automobile. Ceci m’a permis d’affuter un esprit de synthèse face à des problématiques de débugge et de développer un esprit critique dans un respect d’exigence qualité, coût et délais.  

La microélectronique me passionne par son implication directe dans notre vie quotidienne (ordinateur, téléphonie, automobile, etc…), et me fascine par l’enthousiasme de ses acteurs qui ne cessent de la faire évoluer et d’élaborer des solutions sur mesure à chaque problématique rencontrée. 

Mes compétences :
Conception
Microélectronique

Entreprises

  • CEA-Grenoble (France) - Test Engineer (consulting)

    PARIS 2017 - maintenant Caractérisation de dispositif RF sur wafer (Mesure Load Pull, Parametres S ) en technologie RF FDSOI 130nm
  • CEA-Grenoble (France) - Test Engineer (consulting)

    PARIS 2012 - 2017 Caractérisation électrique de mémoires résistives non volatiles. OXRAM
  • EASii IC - Test Engineer (consulting)

    Grenoble 2011 - 2012 Définition et création et mise au point de banc de test de production en labview pour 7 familles de produits microélectroniques.
    Tests et Caractérisation de circuits microélectronique Analogiques de haute fiabilité.
  • CEA-Grenoble (France) - Test Engineer (consulting)

    PARIS 2011 - 2011 Test de circuit RF (ultra wideband) ou Ultra Large Bande en français (ULB) est une technique de modulation radio qui est basée sur la transmission d'impulsions de très courte durée, souvent inférieure à la nanoseconde. Ainsi, la bande passante peut atteindre de très grandes valeurs.
  • EASIIC - Ingénieur en Test et Caractérisation

    2005 - 2011 Avril 2008 - Avril 2010 Ingenieur d'application chez STmicroelectronics.
    • support client.
    • test et caracterisation.
    de circuit "current sensing", "battery management" et "Vref" pour l equipe marketing technique des "Standards l4ineaires".

    Jan – Mars 2008 Ingénieur d’application (DOLPHIN) Dolphin
    • Auto-formation en VHDL et Verilog en parallèle avec l’activité Ingénieur d’Application Dolphin.

    Sept – Dec 2007 Ingénieur d’application (DOLPHIN) Dolphin
    • Ingénieur d’Application DOLPHIN : Mise en place de 2 tutoriaux présentant l’utilisation d’un logiciel de Simulation électrique interne.

    Avril 2007 – Août 2007 Ingénieur de test et caractérisation (DOLPHIN) EM Marin (Suisse)
    • Caractérisation et Validation de mémoires embarquées « Flash » et « EEPROM » répondant aux normes de l’industrie automobile.

    Mars 2007 – Avril 2007 Développeur en testabilité (DOLPHIN) Dolphin (Meylan)
    • Spécification et Développement d’une chaine de filtrage (Matlab) pour la mesure automatique des performances HF d’un ADC.

    Av 2006 – Fev 2007 Ingénieur de test et caractérisation (DOLPHIN) ST-Crolles 1
    • Mise en place de campagnes de tests, mesures, rédaction de procédures et débug.
    • Support technique, Automatisation et Amélioration de l’environnement de test existant, Gestion du labo.

    Juin 2005 – Mars 2006 Concepteur de cellule de test (DOLPHIN) Philips Research (Pays-Bas)
    • Conception de cellules de tests destinées au diagnostique de continuité entre puces de cartes électroniques.
    • Prototypage sur circuit programmable FPGA.
  • LIRMM Laboratoire de Robotique de Microelectronique de Montpellier - Thèse de Doctorat

    2001 - 2004 Sep 2001 – Dec 2004 Doctorat en microélectronique LIRMM (Montpellier)
    • Mise en place de solutions pour limiter les effets parasites (capacitifs et inductifs) dans les réseaux d’interconnexions submicroniques et optimiser l’intégrité du signal des circuits intégrés.
    • Encadrement de 3 Stagiaires.
    • Moniteur de l’enseignement supérieur.

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