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Dany LARUELLE

GRENOBLE

En résumé

Fort de 14 années passées dans le monde très complexe et très riche de la microélectronique, j’ai acquis une solide expérience de l’industrie et notamment dans les domaines de la gestion de projet, de la qualification des procédés de fabrication, de l’amélioration continue, et du test électrique. Mon souhait professionnel est de continuer à mettre à profit mes compétences de gestion de projet dans ce milieu séduisant de la fabrication industrielle.

Mes compétences :
Suivi, contrôle et amélioration rendements
Méthodes, FMEA, DOE, PDCA, 5S, 8D
Anglais, tableurs windows
Gestion de projet industriel

Entreprises

  • STmicroelectronics - Ingénieur Qualité Produit

    2015 - maintenant

  • LFoundry Rousset - Responsable de projet R&D procédés de fabrication

    ROUSSET 2013 - 2014 Responsable de projet R&D service Process Integration – Développement collaboratif d’une technologie CMOS 110nm embarquant une IP Flash SST
    - Interface clients, partenaires LETI & SST, process control et process engineering
    - Gestion des flows de fabrication et de leurs spécifications
    - Garant des livrables requis aux différents jalons du processus de qualification jusqu’au démarrage de la production
    - Suivi du test paramétrique, et des indicateurs de contrôle en ligne
    - Responsable de l'amélioration continue des rendements électriques en sortie de ligne

  • LFoundry Rousset - Responsable de projet R&D industriel

    ROUSSET 2010 - 2012 Responsable projet R&D service Process Integration – Intégration d’une technologie cliente de composants de puissance
    - Interface client, process control, planing et process engineering
    - Gestion du développement des modules élémentaires de fabrication
    - Montage et gestion des flows de procédé de fabrication et de leurs spécifications
    - Garant des livrables requis aux différents jalons du processus de qualification jusqu’au lancement de la production
    - Analyse, suivi et amélioration des procédés de fabrication en ligne
    - Mise en place et suivi du test paramétrique et des analyses rendements

  • Atmel - Responsable du transfert et du suivi de procédés de fabrication

    Rousset 2008 - 2010 Responsable du transfert et du suivi d’une ligne de produits flash en Malaisie, service Product Yield
    - Transfert des flow de procédés de fabrication et support technique en collaboration avec le process engineering
    - Matching des indicateurs de fabrication en ligne (métrologie) et du paramétrique
    - Revue Cp/Cpk électriques et définition des plans d'amélioration (Cp/Cpk > 1.67)
    - Analyse des détracteurs de pertes de rendements électrique et définition des plans d'action
    - Revue des scraps et des non conformités (rejets NCR) et définition des plans d'action
    - Support bitmap, caractérisation électrique et analyses SEM et TEM
    - Animation des réunions et gestion des supports d'échange technique - Confcall Daily et Weekly
    - Interface Business Unit: revue des indicateurs, et consolidation des plans d'actions

  • Atmel - Ingénieur amélioration rendements de fabrication

    Rousset 2004 - 2008 Ingénieur rendement et amélioration continue produits flash et dataflash 130nm - service Yield & Memory Probe
    - Responsable du suivi et de l’amélioration des rendements électriques d’une ligne de fabrication de mémoires flash en collaboration avec le product engineering et le process engineering
    Analyse de corrélations mesures électriques, physiques, événements et historique de la ligne de production et définition de plan d'amélioration - Analyse statistiques
    - Responsable des indicateurs de suivi de la capabilité électrique (Cp/Cpk) des procédés de fabrication des technologies flash
    - Support aux zones de test et analyses bitmap (analyse défaillance et signature électrique)
    - Interface Business Unit et Process Engineering
    - Manager d’une équipe de 5 personnes
    - Mission 2005: Pilotage du transfert du test des produits flash à ACP Test Company (Calamba–Philippines) et mise en place du support de production et des outils d’analyse

  • STMicroelectronics - Stage de DESS

    2000 - 2000 ``Etude de la Perte de Charges en Rétention des Mémoires EEPROM ''

  • STMicroelectronics - Ingénieur caractérisation électrique composants électroniques

    2000 - 2004 Ingénieur caractérisation électrique - Technologies NVM - Service device et process control
    Responsable du support au test électrique, de la caractérisation électrique, et du W.L.R. (Wafer Level Reliability) des nouvelles technologies flash et E²PROM intégrées

  • LAAS-CNRS , Toulouse - Stage Maitrise

    Toulouse 1999 - 1999 Stage de fin d'année de maîtrise - LAAS C.N.R.S. de
    ``Etude du silicium dopé Bore par L.P.C.V.D.''

Formations

  • Université Rennes 1

    Rennes 1999 - 2000 DESS

    DESS Composants Electroniques - Technologie des composants - Fonctions de l'électronique et implications technologiques - Analyse technologique et analyse de défaillance. Mention bien

  • Université Montpellier 1

    Montpellier 1998 - 1999 MAITRISE de Physique

Réseau

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