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WATTECO
- Ingenieur R&D
2009 - maintenant
Ingénieur SW embarqué RF:
- Développement du driver RF Semtech Long Range en 868Mhz dans la stack contiki: communication bidirectionnelle avec ack en bas débit, mode sleep, écoute du canal, réveil lors de la détection d’un préambule, sécurité (AES-CCM*), optimisation du driver CSMA-CA.
- Optimisation de la stack contiki pour diminuer la consommation d’énergie : compression du header des trames, diminution du trafic des trames RPL.
- Développement de tests sur la RF pour évaluer les performances de nos cartes électroniques et valider la production : PER, RSSI, SNR, Noise, essais de porté, essais d’antennes, évaluation de la sensibilité, analyse des spectres, support produit, Norme ETSI, veille technologique
- Développement du driver RF CC1120 (TI), Si4461(Silabs), Sx1272 (Semtech) FSK compatible 802.15.4g
- Participation à la rédaction des spécifications des capteurs Watteco.
- Développement et debug des différentes plateformes HW Watteco (sensors, TIC,..) à partir des schémas électronique :Définition des IO, des pull, debug des fonctionnalités du capteur, de la RF
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Watteco
- Ingénieur
2009 - maintenant
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AXYLOG
- Ingenieur Produit (mission chez Texas Instruments)
2004 - 2005
2004-2005 : Circuit numérique 130nm :
-Support produits et retour client. (Analyse des problèmes, correction, communication)
-Optimisation des rendements et réduction du temps de test. (Pascal, SQL)
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Texas Instruments France
- Ingénieur Test
Villeneuve-Loubet
2004 - 2009
2007-2009 : Circuit RF 65nm :
-Développement de test sur les modulations de fréquences. (Pascal, RF, émetteur, GMSK, EDGE)
-Développement de test sur le « power management ». (Pascal, analogue, régulation, alimentation)
-Mesure et calcul : puissance, Masque, PTE, bruit de phase.(C, analyseur de spectre, mixte signal)
-Mesure et régulation des tensions. (Pascal, oscilloscope)
-Développements des tests RF dans un programme adaptable à plusieurs produits assemblés. (Contrainte hardware et software)
-Support programme, produit, qualification. (Détection des problèmes, correction, communication)
2005-2007 : Premier circuit Texas Instruments 65 nm :
-Développement de la carte électronique. (Contrainte testeur, DFT, produit, 8 sites en parallèle)
-Développement du programme de test. (Pascal, simulation, testeur, numérique, analogue)
-Développement du test de localisation et correction des défauts dans les mémoires. (Pascal, FA, automatisation)
-Debug du circuit et de la carte électronique. (Pascal, oscilloscope, contrainte hardware)
-Mise en production. (Déplacement professionnel)
-Support produit, qualification, retour client. (Détection des problèmes, correction, communication)
-Réduction du temps de test. (Analyse de la production et optimisation du programme)
