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Nicolas DEVANCIARD

PARIS

En résumé

Mes compétences :
Inspections
matériaux
Semiconducteur

Entreprises

  • CEA-Grenoble (France) - Ingénieur Chercheur en Métrologie et Défectivité

    PARIS 2012 - maintenant
  • KLA-Tencor - Ingénieur Application

    2006 - 2012 KLA-Tencor est le numéro un mondial des solutions de gestion du rendement et de contrôle des processus destinées au secteur de la fabrication de semi-conducteurs et aux industries connexes.

    Mon travail consiste en de nombreuses missions telles que: la formation client, l'optimisation du fonctionnement des outils d'inspection en fonction des besoins client, la gestion de projet, l'acceptance de nouvelles machines pour l'inspection en ligne de production.
  • STMicroelectonics - Stagiaire

    2006 - 2006 Stage de 6 mois chez STMicroelectronics à Crolles au département Métrologie en maintenance.
    Sujet : Mise en application de la détection et classification de défauts en Métrologie (FDC).
    Techniques : Outil d’analyse uni/multivariée SIMCA-P, Macro Excel
    Résultats: Preuve apportée de l’impact positif d’un suivi FDC sur équipements de Métrologie. Elaboration d’un plan d’action lié aux procédés de fabrication pour développer le projet à l’ensemble des équipements de Métrologie.
  • Philips - Stagiaire

    Suresnes 2005 - 2005 Stage de 5 mois chez Philips Research Eindhoven (Pays-Bas) au département
    « Photonic Materials and Devices »
    Sujet : Caractérisation de DEL par expérimentations électrothermiques et simulation thermiques.
    Techniques : Excel, Therman, ANSYS
    Résultats: Elaboration d’un procédé expérimental pour mesurer les caractéristiques électriques et thermiques de la DEL, résultats des simulations thermiques en accord avec les caractéristiques techniques de la DEL.

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