Mes compétences :
Inspections
matériaux
Semiconducteur
Entreprises
CEA-Grenoble (France)
- Ingénieur Chercheur en Métrologie et Défectivité
PARIS2012 - maintenant
KLA-Tencor
- Ingénieur Application
2006 - 2012KLA-Tencor est le numéro un mondial des solutions de gestion du rendement et de contrôle des processus destinées au secteur de la fabrication de semi-conducteurs et aux industries connexes.
Mon travail consiste en de nombreuses missions telles que: la formation client, l'optimisation du fonctionnement des outils d'inspection en fonction des besoins client, la gestion de projet, l'acceptance de nouvelles machines pour l'inspection en ligne de production.
STMicroelectonics
- Stagiaire
2006 - 2006Stage de 6 mois chez STMicroelectronics à Crolles au département Métrologie en maintenance.
Sujet : Mise en application de la détection et classification de défauts en Métrologie (FDC).
Techniques : Outil d’analyse uni/multivariée SIMCA-P, Macro Excel
Résultats: Preuve apportée de l’impact positif d’un suivi FDC sur équipements de Métrologie. Elaboration d’un plan d’action lié aux procédés de fabrication pour développer le projet à l’ensemble des équipements de Métrologie.
Philips
- Stagiaire
Suresnes2005 - 2005Stage de 5 mois chez Philips Research Eindhoven (Pays-Bas) au département
« Photonic Materials and Devices »
Sujet : Caractérisation de DEL par expérimentations électrothermiques et simulation thermiques.
Techniques : Excel, Therman, ANSYS
Résultats: Elaboration d’un procédé expérimental pour mesurer les caractéristiques électriques et thermiques de la DEL, résultats des simulations thermiques en accord avec les caractéristiques techniques de la DEL.
