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ST Microelectronics
- Ingénieur caractérisation
2006 - maintenant
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Dolphin
- Ingénieur caractérisation microélectronique
2004 - 2006
Missions pour ST Microlectronics FTMi à Crolles au sein de l’équipe caractérisation électro-optique de capteur d’image CMOS
- Caractérisation des nouveaux process & design.
- Mesure de performances clés : CVF, saturation, PRNU, Rendement quantique, Sensibilité, bruit temporel, Courant de noir, Vieillissement sous éclairement, Lag, crosstalk, …
- Synthèse et analyse des mesures.
- Développement des cartes de mesures pour les capteurs d’images CMOS.
- Saisie de schéma sous Orcad.
- Suivi du câblage et de l’approvisionnement des composants.
- Debug et calibration des cartes.
- Développements software sur le logiciel de mesure.
- Proposition d’amélioration à l’ingénieur ST en charge de soft de mesure
- Développement de nouveaux VI.
- Amélioration du temps de mesure
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Rotronics
- Ingénieur
2001 - 2001
Stage d’ingénieur dont le sujet est la conception et la réalisation d’une station météo étendue (Pression, température, humidité, entrée thermocouple, entrée fréquence, entrée tension)
- Choix des différents capteurs, d’un CAN 24bits série pour les thermocouples.
- Conception de la carte électronique sous ORCAD (Schéma et layout).
- Programmation C du microcontrôleur Philips 80C552.
- Ecriture des documentations
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CERN
- Ingénieur caractérisation microélectronique
Geneva 23
2001 - 2003
Test et caractérisation d’ASIC numérique et analogique utilisé dans l’instrumentation pour la physique des particules. (ADC, DAC, PLL, high resolution time to digital converter, 1.6 Gbits/s serializer for optical link, a specialized timing and control optical receiver and de-serializer)
- Travail en amont avec les designers pour préparer la testabilité des puces. (« Design for test »)
- Définition de la stratégie de test sur l’ASIC avec l’aide du designer et du « data sheet ». (Réalisation d’un document technique contenant la description des tests/caractérisations réalisés en production et en prototype)
- Développement des patterns numériques avec le langage de simulation Verilog.
- Amélioration des patterns sur testeur industrielle (ATE) de la société IMS (Credence)
- Pilotage en Labview de plusieurs instruments de mesures de type VXI et GPIB pour tester la partie analogique de la chip et caractériser la puce en temps, température, fréquence, ...
- Amélioration de la rapidité des tests.
- Conception d’un « programmable delay » d’une résolution de 1ps sous bus VXI.
- Programmation de FPGA.
- Rédaction de documentation technique en anglais.
