-Préparation d’échantillons par polissage et/ou deprocessing (chimique ou plasma)
-Inspection des échantillons en MEB (SEM 4500-4700)
-Préparation d’échantillons par FIB (Dual Beam Helios ou Strata 400 de FEI)
-Inspection des échantillons en TEM (TITAN FEI)
-Responsable d'équipements et support utilisateurs pole compétitivité Arcsis (Laboratoire CIMPACA)
-Support et configuration PC (mail,imprimante...)
http://pmorenojob.wix.com/moncv
Mes compétences :
Informatique bureautique
Rigueur scientifique
Esprit analytique
Résolution de problèmes
Informatique
Electronique
PC
Inspection microscopie electronique SEM
Maintenance Informatique
Preparation et inspection lamelles TEM
Failure Analysis
FIB Dualbeam
MEB-SEM
TEM-MET