Sonia PILORGET

En résumé

Entreprises

• ST MicroElectronics - Device Engineer for 10nm Finfet technology

  2014 - maintenant -Device electrical performance analysis
  -Experiment definition to validate or improve device electrical characteristics
  -Electrical and structural critical parameters definition and tracking
  -Electrical characterization
  

• ST Microelectronics - PDK interface for 20nm/10nm technology

  2011 - 2014 -Interface between PDK and Process Technology during Development and Prototyping phases.
  - Follow-up and interface with Design-Manual and Library representatives for design rules impact analysis.
  -Devices Library development
  
  

• ST Microelectronics - Project responsible for CMOS/Analog/RF 32m/28nm Design Kit

  2009 - 2011 -ISDA ST PDK interface (specifications definition/planning/data/issues/reporting)
  -Physical Design-Kit specifications, planning and follow-up
  -Project team technical and coordination for design needs (Spice Models/DRM/Layout development/ISDA inputs)
  - Delivery to ST internal customers
  

• ST microelectronics - Model responsible for Imager technology

  2006 - 2009 -Electrical characterization and modelisation
  -Interactions with different teams from various sites (Crolles, Rousset, Agrate) in connection with the technology to improve existing processes (process, Design, Reliability...) gather all the data on models delivery to customers
  

• Institut Fresnel / ST microelectronics Rousset - Allocataire de recherche

  2005 - 2006 Entreprise spécialisée dans le développement et la production de Semi conducteurs.
  
  Contrat : CDD de 12 mois
  
  Projet : Caractérisation et simulation des effets de Coins Colorés sur des imageurs CMOS :
  -Caractérisation Optique (adaptation et amélioration du banc de mesures déjà existant),
  -simulation Optique sous Zemax de l’imageur CMOS et des différents paramètres sources du phénomène Color Corner.

• Adhoc Vision - Ingénieur stagiaire

  2004 - maintenant

• Institut Fresnel - Chercheur

  2004 - 2005 Laboratoire spécialisé dans les sciences et les technologies de l’optique, l’électromagnétisme et de l’image.
  
  Contrat : CDD de 4 mois
  
  Projet : Caractérisation de matériaux par la méthode ZScan en régime pico et femtoseconde :
  -Alignement d’optiques et caractérisation des lasers,
  -interfaçage PC et programmation Labview,
  -tests de différents matériaux.

• Laboratoire d'optronique de l'ENSSAT - Ingénieur stagiaire

  2003 - maintenant

Formations

Pas de formation renseignée

Réseau

• Ali YATSOU

• Benoit FAURE

• Catherine MADDALON

• David COULON

• Guillaume LABEQUE

• Jean Michel VADELEUX

• Mireille COMMANDRÉ

• Moëllo KRISTELL

• Sebastien MICHEL

• Xavier BELREDON