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NEC
- Chef de produit
Nanterre
2007 - maintenant
o Introduction et suivi de la gamme de produits serveurs à tolérance de pannes, Blade et stockage vendus en Europe par NEC.
o Définition des caractéristiques techniques des nouveaux produits qui seront développés dans les laboratoires de NEC au Japon.
o veille concurrentielle (produits, prix, promotions)
o Gestion des relations avec les fournisseurs & partenaires (Intel, Microsoft, LSI…)
o Support technique aux forces commerciales
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NEC Computers
- Responsable engineering
Nanterre
2000 - 2007
• Encadrement d’une équipe de 4 ingénieurs systèmes, 1 ingénieur mécanique, 2 ingénieurs tests et 2 techniciens hardware
• Définition des spécifications techniques et plan d’introduction des serveurs développés à NEC CI
• Les ingénieurs systèmes sont responsables du développement des serveurs d’entrée de gamme et des activités d’introduction des serveurs 4-8 processeurs développés à NEC Japon.
• Les ingénieurs tests sont responsables du développement des outils soft et hard pour les tests des serveurs sur la ligne de production (tests développés en C sous DOS et Windows).
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NEC Computers
- Ingénieur test
Nanterre
1998 - 2000
• Ecriture des programmes de test fonctionnels des serveurs mono et multi processeurs Intel x86 (C et assembleur)
• Redéfinition de l’environnement de test des serveurs NEC produits sur le site d’Angers pour améliorer la qualité finale.
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IBM Italie
- Ingénieur test
1989 - 1998
• Ecriture des programmes de validation des systèmes multi processeurs PowerPC (C et assembleur PowerPC)
• Développement d’une chaîne de test complète des cartes E/S utilisées sur les serveurs RS/6000. Brevet de la carte PC automatisant le processus de test.
• Participation au développement d’un système expert avec interface graphique utilisé pour la réparation des cartes électroniques. Médaille d’or IBM pour cette réalisation.
• Développement de différentes cartes électroniques, basées sur des microcontrôleurs Intel 8051 et Motorola 68000 et utilisées pour l’automatisation des chaines de tests
1989-1990: IBM - Rochester (USA)
• Stage d’un an de formation aux techniques de conception des systèmes de test
