Paris
Spécialités Spectroscopies électroniques : XPS (photoélectronique à rayonnement X) , AES (electrons Auger) , AFM/STM (microscopie à champ proche), MEB FEG EDX, EPMA (microsonde de Casataing) /WDS (spectroscopie X à dispersion de longueur d'onde,
Sciences des matériaux caractérisation / Analyse de surface physico chimique :
Domaines d'application : aéronautique (passivation des alliages) ; stockage de l'énergie (batterie Li Ion) - nanomédecine
Mes compétences :
Analyse physico chimique des matériaux
spectroscopies XPS, Auger,
Microscopies électroniques et champ proche
sciences des surfaces
