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THALES Communications & Security
- Technicienne Tests Composants Electroniques
Colombes
2015 - maintenant
Analyses non destructives: microscope, RX 2D et tomographie X, profilométrie, pind test, inspection face arrière au phemos.
Préparation des échantillons: ouverture face avant (BG Decap et laser) et face arrière (ASAP), découpe scie à fil, tronçonneuse, polissage et cross-section, delayering mécanique et chimique.
Caractérisation physique et chimique: wire bond pull, test de cisaillement, microscope électronique à balayage couplé à un détecteur EDX, fines et grosses fuites, FTIR, banc de dégazage, analyses de contamination, révélation chimique des matériaux.
Rédaction de rapports en anglais
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Elemca
- Ingénieur R&D
2015 - 2015
Analyses technologiques, analyses de défaillance, expertises, sur produits provenant de secteurs tels que l'aéronautique, le spatial, l'énergie.
- Analyses non destructives : Tomographie X, Profilométrie CSOM
- Préparations des échantillons : Cross-section sur Allied et polisseuse
- Caractérisations : Wire bond pull, Die shear test, Tests de fines et larges fuites, Microscope, Microscope électronique à balayage, EDX, Microscope UV, Microscope Hirox, FTIR
- Rédaction de rapports d'analyse et d'expertise en anglais
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Fialab
- Technicienne Analyses Technologiques
2013 - 2014
Analyses technologiques, analyses de défaillance, expertises, sur produits provenant de secteurs tels que l'aéronautique, le spatial, l'énergie.
- Analyses non destructives : Tomographie X, Profilométrie CSOM
- Préparations des échantillons : Cross-section sur Allied et polisseuse
- Caractérisations : Wire bond pull, Die shear test, Tests de fines et larges fuites, Microscope, Microscope électronique à balayage, EDX, Microscope UV, Microscope Hirox, FTIR
- Rédaction de rapports en anglais
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Freescale Semiconductor
- Technicienne Process
Toulouse
2011 - 2012
Laboratoire d'analyse qualité :
Analyses défaillances sur semi-conducteurs, retours clients et nouveaux produits:
- Analyses non destructives : C-SAM/T-Scan, X-Rays
- Préparations des échantillons : Ouverture frontside sur JetEtch et B&G Decap, Ouverture backside sur ASAP, Cross-section sur Allied
- Deprocessing : Solutions chimiques, Plasma RIE Nextral, Polissage
- Caractérisations physiques : Wirepull, Microscope, Microscope électronique à balayage (Nano SEM), SEM-EDX
- Autre : Inspection "IR laser pattern" sur Phemos, IV standard automatique, logiciel Camelot pour lecture du layout
- Rédaction de rapports en anglais
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Sanofi-Aventis
- Technicienne chimiste
Paris
2010 - 2010
- Organisation/Gestion du déménagement du patrimoine poudre de la Chimiothèque (env. 850 000 produits).
- Vérification/Rangement des flacons dans des systèmes robotisés RTS et Modula.
- Traitements des erreurs robotiques et flacons.
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Laboratoires Pierre Fabre
- Technienne de recherche chimie
Castres
2009 - 2009
Département de chimie analytique R&D et étude du solide :
- Analyses des lots par analyseur élémentaire C, H, N, S, et coulométrie.
- Pesées effectuées sur microbalance.
- Traitement et émission des résultats.
- Maintenance de l'appareillage.
- Initiations aux techniques de DSC, ATG et DRX.
- Participation aux lectures et modifications des procédures utilisées au laboratoire.
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Sanofi-Aventis
- Stagiaire
Paris
2008 - 2008
Département de chimie exploratoire, Recherche amont :
- Synthèses d'analogues substitués de 3-pyrroline.
- Utilisation d'un poste d'hydrogénation.
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CNRS - LSPCMIB
- Stagiaire
2007 - 2007
- Synthèses, sur rampe à vide, de ligands tridentes chiraux.
- Synthèses de sondes pH-dépendantes.
