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Maryline THOMAS

PARIS

En résumé

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Entreprises

  • Sagem - Ingénieur analyse de défaillance

    PARIS 2015 - maintenant Analyse de défaillance des circuits imprimés, cartes électroniques et brasures
  • Sofradir - Ingénieur caractérisation

    Veurey Voroize 2013 - 2015
  • SAGEM, groupe SAFRAN - Ingénieur Caractérisation

    PARIS 2009 - 2012 Caractérisation de semi-conducteurs III-V pour composants opto-électroniques.
    - Caractérisation de wafers InSb
    - Analyse de données
    - Corrélation entre performances de FPA et caractéristiques des wafers.
    - Mise en service de nouveaux équipements
    - Veille technologique
  • CNRS - Post doctorant

    Paris 2008 - 2008 Thème de recherche: Mémoires à commutation de résistance (projet européen EMMA: Emerging Materials for Mass-storage Architectures)

    - Caractérisation électrique de mémoires non volatiles à base de CuTCNQ et NiO
    - Compréhension des mécanismes de commutation
    - Publications dans des conférences internationnales
  • STMicroelectronics - Ingénieur R&D

    2004 - 2007 Thèse, contrat CIFRE
    Sujet: Caractérisation et développement d’architectures 3D pour capacités Métal Isolant Métal intégrant des électrodes en cuivre et des diélectriques à permittivité élevée
    -Techniques de caractérisation
    .Analyse physico-chimique : MEB, FIB, MET, EELS, AFM, KFM
    .Evaluation électrique des composants : I(V), C(V)
    .Simulations électromagnétiques sous QUEST, logiciel SILVACO
    -Procédés d’intégration pour la microélectronique
    .Architecture damascène et procédés associés : dépôts couches minces, gravure, polissage…
    .Connaissances des matériaux métalliques : cuivre, électrode TiN, TaN
    .Evaluation des propriétés d’isolants à forte permittivité : Si3N4, Ta2O5, HfO2
    -Travail en environnement salle blanche : suivi de l’intégration des dispositifs
    -Design sous CADENCE
    -Publications et conférences internationales

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