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Armel DESCAMPS

PARIS

En résumé

Actuellement à l'ESPCI de la ville de Paris :

Je suis responsable d'un des équipements scientifiques de caractérisation de l'ESPCI
Il s'agit d'un Microscope Électronique à Balayage de type FEG (Magellan FEI) pour l'observation de nanoparticules. Ce système est utilisé aussi bien pour l'enseignement que pour la recherche. Il est équipé d'une sonde analytique EDS et d'une capacité de lithographie électronique (RAITH).
Je réponds aux demandes de caractérisation et de formation d'un large panel d'utilisateurs (ESPCI, ENS, Universités Paris 6 et Paris 7, Institut Curie et Chimie Pais).

Je gère une partie du parc expérimental commun de mesures de transport et d'aimantation
composé d'un Physical Property Measurement System (PPMS) 14 T et Superconducting Quantum
Interference Device - Vibrating Sample Magnetometer (SQUID-VSM) 7T de Quantum Design. Ces
équipements fonctionnent à basse température (quelques degrés Kelvin) via l'utilisation d'azote et de l'hélium liquide. Ils permettent de réaliser des mesures de transport électronique, d'aimantation et de susceptibilité sous champ magnétique et pour des températures allant de 1,7K à 400K.

Bon nombre de bancs expérimentaux utilisent de l'hélium liquide. Le prix de cette ressource s'envolant, l'ESPCI a fait l'acquisition d'un système de reliquéfaction d'hélium. Je suis le responsable de ce projet qui vise à rendre le laboratoire plus autonome vis-à-vis des fournisseurs d'hélium.

Mes compétences :
Microscopy
Scanning
Scanning electron microscopy

Entreprises

  • ESPCI - Ingénieur en instrumentation

    2013 - maintenant
  • INSA de Lyon - Ingénieur en microscopies (SPM/SEM/FIB)

    Villeurbanne Cedex 2003 - 2013 J'étais responsable du microscope en champ proche Dimension3100 du CLYM (expert des modes standards et électriques). Je gèrais le microscope à double faisceaux (FIB/SEM) Nvision40 du CLYM et ses périphériques (GIS, EDS, EBSD, micromanipulateurs).
    J'étais en charge du microscope électronique à balayage (MiraIII) de la plateforme NANOLYON. En tant qu'ingénieur en caractérisation des matériaux, responsable technique de ces trois systèmes, je m'occupais de la maintenance, des formations, des relations internes et externes, ainsi que du suivi des thèmes de recherches des laboratoires partenaires.

    De part ma formation initiale (laser) et mon parcours professionnel, j'ai évolué dans un environnement varié de l'élaboration (salle de chimie/blanche) à la caractérisation ultime (AFM, SEM, FIB, TEM).

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